Gebraucht CAMECA SX-100 #293773834 zu verkaufen

Hersteller
CAMECA
Modell
SX-100
ID: 293773834
Electron microprobe Beam current range: 5x10-7 to 10-12 A Beam position: ± 0.5 µm in 1 hour at 10 kV Beam current variation: ± 0.5 % in one hour ± 1 % in 12 hours Accelerating voltage: 0.2 to 30 kV Secondary Electron Detection and Imaging (SEM) Energy Dispersive Spectrometry (EDS) Backscattered electron detector Wavelength dispersive X-rays spectrometer Light optics Vacuum system CL Detector Plasma cleaner.
CAMECA SX-100 ist ein fortschrittliches Spektrometer zur hochauflösenden Oberflächencharakterisierung und Elementaranalyse. Es wird von CAMECA, einem führenden Anbieter von Analyseinstrumenten für Forschung und industrielle Anwendungen, hergestellt. CAMECA SX 100 beinhaltet modernste Technologien, um überlegene Leistung und Genauigkeit bei der Analyse der elementaren Zusammensetzung und Struktur von Materialien auf Mikro- und Nanoskala zu liefern. Im Mittelpunkt von SX-100 ist eine Hochleistungselektronuntersuchung Mikroanalysator (EPMA) System, das einen eingestellten Elektronbalken verwertet, um die Beispieloberfläche zu erregen und charakteristische Röntgenstrahlen zu erzeugen. Diese Röntgenstrahlen werden dann nachgewiesen und analysiert, um die elementare Zusammensetzung der Probe zu bestimmen. SX 100 ist mit mehreren Detektoren ausgestattet, einschließlich Wellenlängen-Dispersionsspektrometern (WDS) und Energiedispersionsspektrometern (EDS), um eine präzise und gleichzeitige Analyse einer Vielzahl von Elementen zu ermöglichen. Eines der Hauptmerkmale von CAMECA SX-100 ist seine außergewöhnliche räumliche Auflösung, die es Anwendern ermöglicht, Proben mit Submikron-Genauigkeit zu studieren. Das Gerät ist mit einer hochpräzisen Stufe ausgestattet, die die Probe mit Nanometer-Präzision positionieren kann und eine detaillierte Abbildung und Abbildung der elementaren Verteilungen über die Probenoberfläche ermöglicht. Diese Fähigkeit ist besonders wertvoll in Forschungsbereichen wie Materialwissenschaft, Geologie und Halbleiteranalyse, wo die Charakterisierung von Mikrostrukturen und Spurenelementen entscheidend ist. CAMECA SX 100 bietet eine breite Palette von analytischen Modi und Funktionalitäten, um unterschiedlichen Forschungsanforderungen gerecht zu werden. Es unterstützt automatisierte Mapping- und Zeilenscanfunktionen für eine schnelle und effiziente Datenerfassung sowie fortschrittliche quantitative Analysewerkzeuge für eine genaue elementare Quantifizierung. Das Instrument verfügt zudem über eine ausgeklügelte Datenverarbeitungs- und Visualisierungssoftware, mit der Anwender ihre Ergebnisse klar und informativ interpretieren und präsentieren können. Neben seiner analytischen Leistungsfähigkeit ist SX-100 auf Benutzerfreundlichkeit und Zuverlässigkeit ausgelegt. Das Instrument ist mit intuitiven Benutzeroberflächen und Softwaresteuerungen ausgestattet, die den experimentellen Workflow optimieren und Bedienungsfehler minimieren. Die robuste Konstruktion und die hochwertigen Komponenten gewährleisten eine stabile und reproduzierbare Leistung über längere Betriebszeiten und sind somit ein ideales Werkzeug sowohl für Forschungslabore als auch für industrielle Qualitätskontrollen. Insgesamt stellt SX 100 eine Spitzenlösung für hochauflösende Oberflächenanalyse und elementare Charakterisierung dar. CAMECA SX-100 ist mit seinen fortschrittlichen Funktionen, seiner hervorragenden Leistung und seinem benutzerfreundlichen Design ein vielseitiges und leistungsstarkes Tool für eine breite Palette von Analyseanwendungen. Ob Sie geologische Proben untersuchen, Halbleitermaterialien untersuchen oder Qualitätskontrollen durchführen, Forscher und Branchenexperten können sich auf CAMECA SX 100 verlassen, um genaue und aufschlussreiche Ergebnisse zu liefern, die wissenschaftliche Entdeckung und technologische Innovation vorantreiben.
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