Gebraucht CAMECA TOF-SIMS IV #293587143 zu verkaufen

CAMECA TOF-SIMS IV ist ein fortschrittliches Spektrometer, das es Forschern ermöglicht, die Wechselwirkungen zwischen Probenatomen und Elektronen zu messen und Informationen für eine Vielzahl von analytischen Aufgaben bereitzustellen. Wie der Name schon sagt, arbeitet er mit der Time-of-Flight-Technik der sekundären Ionenmassenspektrometrie (TOF-SIMS), die die Messung von in einer Probenoberfläche in ionischer Form vorhandenen Transienten- und Spurenelementen ermöglicht. Dieses Gerät verfügt über eine Auswahl an Quellen für die Analyse hoher Energiedichte mit seinem statischen Hochenergie-Ionen-akustischen Linsensystem. Dies ermöglicht eine schnelle und genaue Kalibrierung des TOF-Detektors, um den analytischen Anforderungen jedes Experiments gerecht zu werden. Dieses Setup bietet eine optimale Kombination aus Ionenzählungen und Massengenauigkeit, so dass Forscher Massenspektren mit einem breiten Dynamikbereich in einer Vielzahl von Zeitrahmen erwerben können. Dies wird durch das Dreianodendesign des Instruments erreicht, das Proben-Ionen unparteiisch auswählt und an einen oberhalb des Probenbereichs angebrachten Flugzeitdetektor sendet. TOF-SIMS IV ist auch entworfen, um Umweltkontaminationen zu reduzieren, sowohl diejenigen, die dem Instrument inhärent sind, als auch diejenigen, die aus der Umgebung kommen, durch sein Probenfach, das thermisch und vakuumdicht ist. Dadurch wird verhindert, dass die Probe mit der Luft homogen wird oder gegenseitigen Wechselwirkungen mit Elementen in der Umgebung ausgesetzt ist. Das Instrument kann auch mit einer Oberflächensonde für die Bildgebung und Probenabbildung ausgestattet werden, so dass Sie bequem Informationen über die Zusammensetzung und Morphologie der Probe sammeln können. CAMECA TOF-SIMS IV kann bis zu einer Auflösung von 1 Mikron abbilden und bietet dem Benutzer einen genauen und detaillierten Blick in die physikalischen Eigenschaften der Probe. Das Gerät ist sehr modular und kann leicht an die Anforderungen eines Experiments angepasst werden, wodurch der Benutzer eine vollständige Kontrolle über TOF-SIMS IV. Die mit dem Instrument verbundene Software-Schnittstelle bietet eine bequeme und einfach zu bedienende Schnittstelle, um das Massenspektrometer zu steuern und die erworbenen Spektren zu sehen und zu analysieren. Dies hilft Forschern, isotopische und elementare Zusammensetzung von Materialien schnell zu identifizieren und Verunreinigungen oder chemische Zusammensetzungsänderungen zu erkennen. CAMECA TOF-SIMS IV ist aufgrund seiner Robustheit und seiner Fähigkeit, genaue Ergebnisse zu liefern, zu einem bevorzugten Werkzeug unter Forschern geworden. Es ist weit verbreitet in Bereichen wie Oberflächentechnik, Materialwissenschaft, Life Sciences, Mikroelektronik und Halbleiterindustrie und Katalyse, um nur einige zu nennen. All diese Vorteile machen TOF-SIMS IV zu einer außergewöhnlichen Möglichkeit, Informationen über komplexe Oberflächen genau und schnell zu analysieren und zu sammeln.