Gebraucht HITACHI HFS-3 #293667531 zu verkaufen

HITACHI HFS-3 ist ein Hochleistungs-FT-IR-Spektrometer, das sich gut für den routinemäßigen Laboreinsatz eignet. Es verfügt über eine Reihe von erweiterten Funktionen und bietet eine Reihe von Optionen für Messungen von Proben mit hoher Empfindlichkeit. Das Spektrometer hat ein Interferometer mit dielektrischen Spiegeln, eine Auflösung von 0,5 cm-1 und einen Spektralbereich von 6.500 - 350 cm-1. HFS-3 verwendet ein hochauflösendes Scansystem, das es dem Benutzer ermöglicht, bis zu 32 Scans mit einer maximalen Geschwindigkeit von 6.000 Scans pro Minute zu erhalten. Das Spektrometer ist mit einer Reihe qualitativer und quantitativer Analyseeigenschaften ausgestattet, einschließlich Mehrkanalfähigkeit und Spitzensuche. Das Spektrometer verfügt außerdem über ein integriertes Datenverarbeitungssystem mit Windows XP-Software, das eine einfache und effiziente Analyse der Daten aus dem Spektrometer ermöglicht. Das Probenfach ist mit einem automatisierten Bewegungsmechanismus zur Probenanalyse ausgestattet. Der Probenmesskopf kann sowohl für feste als auch für flüssige Proben konfiguriert und mit Präzision und Geschwindigkeit betrieben werden. Das Spektrometer ist auch mit einer motorisierten Multikanal-Fensteroption ausgestattet, mit der Benutzer die gewünschten Wellenlängenbereiche zur Analyse auswählen können. Dies verbessert die Genauigkeit von Peak-Detektionen und erhöht die Empfindlichkeit des Spektrometers weiter. HITACHI HFS-3 enthält auch mehrere integrierte Funktionen für die quantitative Analyse. Es kommt mit einem referenzabhängigen Analysesystem für Absorptions- und Transmissionsmessungen. Die referenzunabhängige Analyse weist eine automatische Probenreferenzauswahl und einen linearen Tiefenlinearbereich in der Routineanalyse auf. Es ist auch mit einer Autoshutter-Funktion ausgestattet, um Bedienungsfehler bei der Referenzmessung zu vermeiden. Darüber hinaus verfügt das Spektrometer über eine eingebaute Spitzensuchfunktion, um die genaue Spitzenposition in schnell abtastenden Situationen zu ermitteln. HFS-3 ist kompakt und eignet sich für eine Vielzahl von Anwendungen, einschließlich Mikro- und Nanoskala-Analyse, Montagemessungen, Qualitätskontrolle und vieles mehr. Die integrierte Software und die automatisierten Musterpositionierungsfunktionen machen es bequem zu bedienen und erfordern minimale Aufmerksamkeit des Benutzers. Darüber hinaus ist es aufgrund seiner überlegenen Wellenlänge und Auflösung für eine Vielzahl von Anwendungen geeignet.