Gebraucht ION TOF TOF SIMS IV #9243595 zu verkaufen

Ein ION TOF TOF SIMS IV (Secondary Ion Mass Spectrometer) ist eine fortgeschrittene Form der Massenspektrometrie, die mehrere verschiedene Technologien für eine äußerst genaue und präzise molekulare Charakterisierung kombiniert. Dieses Instrument ermöglicht hochgenaue und empfindliche Messungen der Masse-zu-Ladung (m/z) -Werte von Ionen zusammen mit ihren isotopischen Zusammensetzungen. Das TOF ION TOF TOF-SIMS IV verwendet eine Ionenquelle, um eine Probe zu ionisieren, entweder durch Bombardierung mit Elektronen, Laserlicht oder gasphasenchemischen Reaktionen. Diese Ionen durchlaufen ein elektrisches Feld und werden dann in eine Flugzeitkammer (TOF) beschleunigt. Die Ionen werden dann nach ihren Massen getrennt und zum Detektor hin gerichtet. Das TOF TOF SIMS IV-Spektrometer ist mit einem TOF-Analysator (Time-of-Flight) ausgestattet, der die Flugzeit jedes Ions misst, wodurch der Benutzer das Masse-zu-Ladeverhältnis des Ions bestimmen kann. Dieser Analysator ermöglicht auch die Bestimmung der isotopischen Zusammensetzung und elementaren Zusammensetzung der Probe. Zusätzlich ist das Instrument mit einem Ionendetektor ausgestattet, um Informationen über die Anzahl der Ionen in der Probe bereitzustellen. TOF-SIMS IV ist ein fortschrittliches Werkzeug zur Oberflächenanalyse und in der Lage, die Ionenzusammensetzung von Oberflächen mit hoher Auflösung zu messen. Es kann sehr kleine Teilchen der Materie erkennen und analysieren, sogar bis zum atomaren Niveau. Neben seinen Oberflächenanalysefähigkeiten wird es auch für anorganische und organische Analysen sowie für Anwendungen in der Arzneimittelentdeckung und medizinischen Diagnostik eingesetzt. ION TOF TOF SIMS IV kann Partikel aus einer Vielzahl verschiedener Probengrößen analysieren, darunter von Nanogramm bis Milligramm. Es ist auch in der Lage, die isotopischen Verhältnisse mit bis zu 10 Dezimalstellen der Genauigkeit zu messen, so dass es ein unschätzbares Werkzeug für Forscher, die Isotopengeochemie studieren. Insgesamt ist ION TOF TOF-SIMS IV ein vielseitiges und robustes Massenspektrometer mit einem breiten Anwendungsspektrum in vielen verschiedenen Bereichen. Seine Fähigkeit, präzise und genaue Messungen zu machen, ist von unschätzbarem Wert für Wissenschaftler, die eine Vielzahl von Materialien studieren, von Partikeln auf dem Nanoskaligen bis hin zu Säuren und Feststoffen auf der Makroskala. Es bietet auch ein leistungsfähiges Werkzeug für Forscher in der Arzneimittelentdeckung und medizinischen Diagnostik, so dass sie die Zusammensetzung der verschiedenen Verbindungen besser verstehen.