Gebraucht JEOL JSX 3400R #189263 zu verkaufen

JEOL JSX 3400R ist ein SEM-Spektrometer (Rasterelektronenmikroskop), das die neuesten technologischen Fortschritte beinhaltet, um eine genaue und schnelle Datenerfassungsfähigkeit zu gewährleisten. Dieses Gerät bietet eine breite Palette von analytischen Funktionen, einschließlich der energiedispersiven Röntgenfluoreszenz (EDX) und der Transmissionselektronenmikroskopie (TEM). Um kleine Partikel mit einem Elektronenstrahl zu messen, verfügt JSX 3400R über einen erweiterten Abtastmechanismus. Dieser Mechanismus gewährleistet eine hohe Auflösung bei einer Strahlenergieauflösung von 0.025eV. Die AE-Linse, gekoppelt mit der automatisierten Strahlstromstabilisierung, kompensiert jede Probendrift bei Scans. Darüber hinaus ermöglicht die Umwelttechnik dem JSX 3400, in kontrollierter Temperatur- und Feuchtigkeitsumgebung zu arbeiten, was zu einer verbesserten Messgenauigkeit führt. Dieses System bietet auch eine Vielzahl von Bildverarbeitungsfunktionen, die Ergebnisse mit fortschrittlichen Algorithmen verstärken und quantifizieren. Durch die Datenarchivierungsfunktion können Benutzer Bilder und Prozessanalysen in ihren Computern speichern. Darüber hinaus ermöglicht der integrierte OIServer einen schnellen Datentransfer von der JSX an jeden Ort der Welt. JEOL JSX 3400R bietet auch eine Reihe von Funktionen für verbesserte Messgenauigkeit und Effizienz. Dazu gehören ein optisches Hochleistungsmikroskop mit 6-Achsen-Manipulator, ein peripherer iD-Stufencontroller, eine eingebaute EDS-SLD-Einheit und ein zweidimensionales optisches Profilometer. JSX 3400R ist ein zuverlässiges und vielseitiges Werkzeug für spektrometrische Studien. Seine fortschrittlichen Eigenschaften ermöglichen eine präzise Messung kleiner Partikel mit höchster Genauigkeit. Die erweiterten Bildverarbeitungsfunktionen der Maschine ermöglichen es auch Benutzern, ihre Analyse zu verfeinern und zu quantifizieren. JEOL JSX 3400R bietet Forschern mit seiner leistungsstarken Kombination aus Design und Features ein unschätzbares Werkzeug für das Verständnis von Materialien auf der Nanoskala.