Gebraucht OXFORD X-Max #9375044 zu verkaufen

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Hersteller
OXFORD
Modell
X-Max
ID: 9375044
Energy Dispersive Spectrometer (EDS) 51-XMX0020 Detector HITACHI SU-3500 Scanning Electron Microscope (SEM) Operating system: Windows 7 Pro Calibration performance: Discriminator calibration (FxMxS): 56x36x61 Peak position calibration: 1851 Quant optimization: Cu Specified resolution: 127 eV Extrapolated system resolution: 124 eV (Triggered noise strobe) Measured detector resolution at Mn K Alpha: ≤127 eV Nickel L-K: >0.85 at 35° TOA and 20 kV Measured detector resolution at C K Alpha: ≤56 eV Measured detector resolution at F K Alpha: ≤64 eV Detector temperature: -60°C Peltier power: 5.387 W.
OXFORD X-Max Spektrometer ist ein fortschrittliches Spektrometer für hochauflösende wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanwendungen (XRF). Es verfügt über ein neu entwickeltes Detektorarray, das eine verbesserte Auflösung, Effizienz und Flexibilität bietet. Es arbeitet mit bis zu vier Röntgenanregungsquellen, die zur optimierten Elementdetektion individuell ausgewählt werden können. Das Detektorarray besteht aus bis zu sechs Elementen und ist jeweils mit unterschiedlichen Winkeln und Einfallswinkeln angeordnet. Diese Anordnung ermöglicht die gleichzeitige Erfassung eines weiten Bereichs von Röntgenwellenlängen, wodurch hochauflösende Informationen mit maximaler Effizienz gewonnen werden können. Das Array ist mit gestapelten Argon gefüllten Detektorzellen aufgebaut, die die Röntgenerkennungseffizienz maximieren und Schwankungen in der Anzahl minimieren sollen. X-Max ist auch mit einem neuen Si (Li) -Detektor ausgestattet, der eine hohe Detektionseffizienz für die Lichtelemente bietet. OXFORD X-Max verfügt über einen erhöhten Dynamikbereich von bis zu 10.000 Zählern, der einen hohen Probendurchsatz und ein verbessertes Signal-Rausch-Verhältnis ermöglicht. Das Spektrometer ist auch mit einem breiten Spektrum von Interferenzunterdrückungstechniken, einschließlich Strahlformung, Monochromator Subtraktion und gepulsten Betrieb für Rauschunterdrückung und optimale Auflösung ausgelegt. X-Max verwendet eine einzigartige Vakuumkammer und kundenspezifische Kühltechnologie, um langfristige Zuverlässigkeit und Leistung zu gewährleisten. Seine maßgeschneiderte Brechungsoptik bietet eine verbesserte thermische Umgebung und minimierte Drift, um genaue Messwerte zu gewährleisten. OXFORD X-Max verfügt außerdem über eine integrierte automatische Belichtungssteuerung, mit der Benutzer die Bedingungen ihrer Proben optimieren können, um die Auflösung zu maximieren und das Risiko einer Überbelichtung zu minimieren. X-Max verfügt über fortschrittliche Software zur Optimierung der Datenintegration und -analyse. Seine intuitive grafische Benutzeroberfläche (GUI) ermöglicht es Benutzern, ihre Messungen zu überwachen, Rohdaten anzuzeigen und sofort auf Ergebnisse zuzugreifen. Die Software verfügt auch über eine integrierte Suchmaschine mit anpassbaren Sortiermöglichkeiten, so dass Benutzer die gewünschten Elemente schnell finden können. Insgesamt bietet OXFORD X-Max ein leistungsstarkes eigenständiges Spektrometer, das beeindruckende benutzerfreundliche Software mit einem robusten Detektorarray für verbesserte Auflösung und Effizienz kombiniert. Das benutzerfreundliche Design, die hochauflösenden Funktionen und die fortschrittliche Software machen X-Max zu einer idealen Wahl für die XRF-Spektrometrie.
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