Gebraucht PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 670 #9205333 zu verkaufen

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670 ist ein hochentwickeltes Spektrometer für die Analyse komplexer Materialien und Oberflächen. PHI 670 bietet eine Reihe von Funktionen, die eine präzise Datenerfassung und -analyse ermöglichen. Das Gerät enthält ein laserbasiertes optisches Spektrometer für erweiterte Messungen, einschließlich winkelaufgelöster Photoemissionsspektroskopie (ARPES), ultravioletter Photoemissionsspektroskopie (UPS) und Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS). Das Spektrometer bietet ferner den integrierten Analysator, der eine breite Palette von Informationen über die Probe liefert, einschließlich Bindungsenergie und Spektralauflösung. PHYSICAL ELECTRONICS 670 enthält einen optischen Tisch, einen flexiblen Probenhalter und einen hochempfindlichen Detektor, der eine präzise und genaue Datenerfassung ermöglicht. Die Tabelle ist mit einem Gleitreflexionsmonochromator und einer Geschwindigkeitsauswahlapertur ausgestattet, die unterschiedliche Laserenergieeingänge von UV- bis Röntgenfrequenzen akzeptieren. Der flexible Probenhalter ermöglicht optimierte Oberflächenabfrage und winkelgelöste Messungen mit minimalen Probenpositionierungs- oder Drehfehlern. Auch kann die Gleichgewichtssubstrattemperatur im Probenhalter entsprechend der Laserenergiequelle eingestellt werden. Das Spektrometer bietet zwei verschiedene Arten der Datenerfassung. Die Single-Shot-Datenerfassung zeichnet sich durch eine schnelle Datenerfassung mit minimalem Setup aus, während die Echtzeit-Datenerfassung die Analyse dynamischer Prozesse ermöglicht. Zusätzlich verfügt 670 über eine mehrkanalige Abtastfähigkeit zur Tiefenprofilierung des Brechungsindex für unterirdische Schichten und dünne Folien. Dies ist nützlich zur Überwachung der optischen und Interferenzeigenschaften von Substratschichten. Darüber hinaus kann PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 670 mehrere kinetische und thermische Prozesse gleichzeitig messen, wie Desorption, Streuung, chemische Reaktionen und thermische Freisetzung. PHI 670 wurde entwickelt, um präzise Daten zu messen und gleichzeitig einen schnellen Datenerfassungs- und Erfassungsprozess anzubieten. Seine Kombination von Funktionen macht es zu einer ausgezeichneten Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in PHI. Neben der Messung komplexer Prozesse ist es auch bei der Charakterisierung von Materialien, Dünnschichten, Substraten und Sensoren für die Oberflächenwissenschaft und Materialanalyse wirksam. PHYSICAL ELECTRONICS 670 eignet sich hervorragend für Industrie- und Forschungslabore, die ein hochmodernes Spektrometer zur präzisen, genauen Datenmessung benötigen.