Gebraucht PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #9106480 zu verkaufen

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Spektrometer für PHI (PE) -Messanwendungen. Es verfügt über eine vielseitige Sechs-Kanal-Detektionsausrüstung, die physikalische und elektrische Eigenschaften auf Nano-, Pickosekunden- und Femtosekundenebene messen und analysieren kann. PHI TRIFT III ist der dritte in einer Reihe von Spektrometerinstrumenten, die von PHYSICAL ELECTRONICS entwickelt wurden. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT III bietet eine breite Palette von Informations- und Analysewerkzeugen, die eine umfassende Prüfung und Analyse von Halbleitermaterialien und -bauelementen ermöglichen, einschließlich spannungsempfindlicher Widerstände, optoelektronischer Bauelemente, Leistungshalbleiterbauelemente und integrierter Schaltungen. PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3 eignet sich auch hervorragend für die Sondierung einer Vielzahl von Feldern, einschließlich elektrischer, optischer und thermischer Eigenschaften. PHI TRIFT 3 ist mit einem hochauflösenden Faraday-Effekt-Erkennungssystem ausgestattet, das ultraschnelle, pikosekundenfreie, schussgeräuschfreie Messungen bietet. Es ist auch mit einem breitbandigen Pulslaser zur Messung von Übergangskapazität, Diffusionskapazität und verwandten Eigenschaften ausgestattet. Der Laser verfügt über eine Diode, Blitzlampe und Photodiode zur optischen Sondierung jedes zu prüfenden Gerätes. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3 ist auch mit einer Mikrowellenfrequenz-Rauschprüfeinheit ausgestattet, um schnelle und genaue Rauschmessungen zu ermöglichen. Die Maschine bietet die Möglichkeit, Werkzeugakustik, Umgebungsgeräuschquellen und Wärmelärm zu untersuchen. Darüber hinaus ist PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT 3 in der Lage, das Gigahertz-Rauschen von nanoskaligen Geräten zu messen. PHI TRIFT 3 verfügt über eine integrierte E-Feld-Sensoreinheit, die elektrische Messungen auf Picosekundenebene ermöglicht, einschließlich elektrischer Felder, induktiver Komponenten, kapazitiver Elemente und anderer Eigenschaften. Diese Anlage kann die physikalischen Eigenschaften von Transistoren, bipolaren Übergangstransistoren und Feldeffekttransistoren messen. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT 3 ist auch mit fortschrittlichen Feldemissionsfeldmesssystemen ausgestattet, die zur Untersuchung elektrophysiologischer Antworten im Nanoskala verwendet werden. Das Modell kann die dielektrische Reaktion, die Elektronenfeldantwort und deren Wechselwirkung messen. Mit seinem Rasterelektronenmikroskop können Mikrofeaturen von Nanodesvices in Nanometerauflösung untersucht werden. Abschließend ist das PHYSIKALISCHE ELEKTRONIK/PHI TRIFT 3 Spektrometer ein ideales Instrument für physikalische, elektrische und optische Prüfanwendungen. Es enthält einen umfassenden Satz von Mess- und Analysewerkzeugen zur Untersuchung von Halbleiterbauelementen auf Picosekunden- und Femtosekundenebene. Der hocheffiziente E-Feldsensor und die fortschrittlichen Feldemissionsfeldmesssysteme machen ihn zu einem wertvollen Werkzeug für die Charakterisierung von Geräten im Nanoskala.