Gebraucht PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391 zu verkaufen

ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS) Ion sources: Ga+, Cs+, O2+ Detection limit: ppm-ppb Spatial resolution at imaging: >100 nm Probing depth: 1-3 monolayers in static mode Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun Mass range: 0-10.000 amu Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 ist ein hochmodernes Spektrometer zur Oberflächenanalyse unter Verwendung von Auger-Elektronenspektroskopie (AES) und Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS). Dieses leistungsstarke Instrument bietet Forschern und Wissenschaftlern die Möglichkeit, die Oberflächenchemie, Zusammensetzung und Struktur von Materialien mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit und Tiefenprofilerstellung zu untersuchen. TRIFT97 Spektrometer ist mit einem halbkugelförmigen Elektronenenergieanalysator ausgestattet, der genaue Energiemessungen von emittierten Elektronen ermöglicht und eine genaue Bestimmung der elementaren Zusammensetzung und der chemischen Bindungszustände auf der Oberfläche der Proben ermöglicht. Das System ist so konzipiert, dass es unter extrem hohen Vakuumbedingungen arbeitet, um die Oberflächenverschmutzung zu minimieren und während der Analyse hohe Signal-Rausch-Verhältnisse aufrechtzuerhalten. Das Instrument verfügt über eine ausgeklügelte Elektronenkanone, die einen fokussierten Elektronenstrahl auf die Probenoberfläche emittiert und die Emission von Auger und Photoelektronen induziert. Diese emittierten Elektronen werden dann vom Elektronenenergieanalysator gesammelt und zu hochauflösenden Spektren verarbeitet, die detaillierte Informationen über die elementare Zusammensetzung und die chemische Umgebung der Probe aufzeigen. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 Spektrometer ist mit mehreren Detektionskanälen zur gleichzeitigen Erfassung von Auger- und XPS-Spektren ausgestattet, die eine effiziente und umfassende Analyse komplexer Oberflächen ermöglichen. Das System ermöglicht es Benutzern, Tiefenprofilversuche durchzuführen, indem die Probe mit einem Ionenstrahl gesputtert wird, während die Änderungen der Oberflächenzusammensetzung und der chemischen Zustände kontinuierlich überwacht werden. Eines der Hauptmerkmale TRIFT97 Spektrometers ist seine fortschrittliche Datenerfassungs- und Verarbeitungssoftware, die eine benutzerfreundliche Schnittstelle für die Instrumentensteuerung, Datenerfassung und -analyse bietet. Die Software ermöglicht die Echtzeit-Visualisierung der erfassten Spektren, die Peak-Identifikation, die Quantifizierung elementarer Konzentrationen und die Interpretation chemischer Zustände auf Basis von Bindungsenergien. Das Instrument enthält auch eine Reihe von optionalen Zubehörteilen und Upgrades, um seine analytischen Fähigkeiten zu verbessern, wie eine monochromatische Röntgenquelle für verbesserte XPS-Auflösung, Tiefenprofilerstellungsmodus für sequentielles Sputtern und Analyse sowie Probenheiz- und Kühlstufen für In-situ-Experimente bei kontrollierten Temperaturen. Zusammenfassend ist PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 ein vielseitiges und leistungsstarkes Spektrometer, das modernste Funktionen für Oberflächenanalyseanwendungen bietet. Mit seiner hohen Empfindlichkeit, Auflösung und Tiefenprofilierung eignet sich das Instrument ideal zur Erkundung der Oberflächeneigenschaften einer Vielzahl von Materialien in Bereichen wie Materialwissenschaft, Nanotechnologie, Katalyse und Halbleiterforschung. Die intuitive Software-Oberfläche und das optionale Zubehör machen es zu einem wertvollen Werkzeug für Forscher und Wissenschaftler, die tiefgehende Einblicke in die Chemie und Struktur von Oberflächen auf atomarer Ebene gewinnen möchten.
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