Gebraucht SCIENTIFIC ANALYSIS INSTRUMENTS / SAI MiniSIMS ToF #9062424 zu verkaufen
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ID: 9062424
System
Mass Spectrometer: Time of Flight (ToF), compact reflectron geometry, secondary ion pulsing
Primary Beam: Ga+, current ~3 nA, energy ~5 to 7 keV
Expected Emitter lifetime > 200 emission μA hours
Pumping System: Turbomolecular + diaphragm pumps
Computer Hardware: Dedicated PC with (2) monitors
Positive and negative secondary ion detection
Secondary electron and secondary ion imaging
Defocused primary beam for static SIMS analysis
Dynamic SIMS capability
Charge neutralization for insulating samples
Integrated data processing software
Data System Windows XP or 7 compatible
Instrument control, spectrum and image acquisition and display
Additional Options:
(1) Spectral library with search facility
(2) Enhanced Sample Handling
10 cm (4”) samples or multiple samples with automated analysis
General:
Size: True benchtop, < 0.80 m2 footprint + PC
Supplies: Single phase mains electrical supply
Power Requirements: 1.2kVA without PC, approximately 2.3kVA with PC
Ambient Temperature: Between 15°C and 25°C
Sample Handling:
Sample Type: Vacuum-compatible solid, < 0.5 mm surface roughness
Sample Size: < 12.5 mm diameter x < 6.5 mm thickness for conducting samples and
< 9.5 mm diameter x < 5 mm thickness for insulating samples
Sample Loading Time:~5 minutes for standard sample stage
Optional Upgrade available: < 100 mm diameter and < 12 mm thickness or up to 31 standard samples
Loading time ~35 minutes
Performance:
Base Pressure: < 1 x 10-6 mbar
Mass Range: m/z = 1 to 1200 daltons
Mass Resolution: m/dm > 650 @ m/z = 27 daltons (FWHM)
Mass Accuracy: Better than 0.2% above m/z = 12 with internal spectrum calibration
100
Sensitivity I > 1 x 104 cps/nA, I = Σ (I(xMo+) + I( xMoO+))
Analysis Area:
Defocused beam:-
Fixed 2.7 +/- 0.3 mm diameter area
Focused beam:-
Minimum limited by primary beam (see spot size)
Maximum 4.5 mm x 4.5 mm image area for conducting samples
1.5 mm x 1.5 mm image area for insulating samples
Primary Beam Spot Size: < 10μm @ 3 nA / 6 keV Ga+ for conducting samples
< 50μm @ 3 nA / 6 keV Ga+ for insulating samples.
WISSENSCHAFTLICHE ANALYSEINSTRUMENTE/SAI MiniSIMS ToF ist ein leistungsstarkes Spektrometer zur Messung und Analyse der Zusammensetzung fester und organischer Proben. Dieses Instrument eignet sich ideal für Anwendungen wie Nanoanalyse, Arzneimittelentdeckung, Materialidentifikation und chemische Bildgebung. SAI MiniSIMS ToF verfügt über eine einzigartige zylindrische Geometrie, die probenweite Bildgebungs- und Analysefunktionen ermöglicht. Es besteht aus einer Auswahl von Linsen, die den ionisierten Probenstrahl auf einen umlaufenden Detektor fokussieren. Dieser Detektor erfasst dann die eintreffenden Teilchen in Abhängigkeit von der Zeit. Durch die Analyse der nachgewiesenen Moleküle in Abhängigkeit von der Zeit, SCIENTIFIC ANALYSIS INSTRUMENTS MiniSIMS ToF ist in der Lage, eine genaue und detaillierte chemische Analyse der Probe zu erhalten. Der Ionisierungsprozess für MiniSIMS ToF wird durch den Einsatz einer Ionenpistole erreicht. Diese Pistole ist eine externe Quelle von geladenen Partikeln, die entweder im positiven oder negativen Polaritätsmodus betrieben werden können. Die Ionenpistole wird verwendet, um die Partikel auszuwählen, die die Ionen erzeugen, und auch um die Energien zu steuern, bei denen sie erzeugt werden. Mit dieser Ionenpistole ist es möglich, ultrafeine Niveaus der isotopischen Zusammensetzung zu messen. WISSENSCHAFTLICHE ANALYSEINSTRUMENTE/SAI MiniSIMS ToF hat zwei verschiedene Arbeitsweisen: primäre und sekundäre. Im Primärmodus werden Partikel mit einem Elektronenstrahl bombardiert und die resultierenden Ionen dann für ihre Flugzeit (ToF) gemessen. Dies dient zur Gewinnung der hochauflösenden Molekülbilder und exakten Masse-/Ladungsmessungen. Im sekundären Modus werden instabile Isotope mit einem langsam-sekundären Ionenmassenspektrometer zur Messung isotopischer Unterschiede zwischen den Ionen detektiert. Insgesamt bietet das SAI MiniSIMS ToF hochauflösende Spektrometer ein leistungsstarkes und zuverlässiges Instrument für Analyse- und Bildgebungsanwendungen. Seine hochauflösenden Partikeldetektoren bieten eine ideale Leistung für verschiedene Analysetechniken. Darüber hinaus ermöglicht seine Ionenpistole die Erzeugung von Ionen mit unterschiedlichen Energien und mehreren Polaritätsmodi. Dies ermöglicht sowohl die Identifizierung als auch die Quantifizierung verschiedener Moleküle in der Probe. Mit seiner Vielseitigkeit, Geschwindigkeit und Genauigkeit ist dieses Instrument eine ideale Wahl für jedes Labor.
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