Gebraucht SHIMADZU / KRATOS ANALYTICAL AXIS Supra #293749156 zu verkaufen

SHIMADZU/KRATOS ANALYTICAL AXIS Supra ist eine anspruchsvolle Spektrometer-Ausrüstung für fortschrittliche spektroskopische Analysen in Forschung und industriellen Anwendungen. Dieses hochmoderne Instrument vereint das Know-how zweier renommierter analytischer Instrumentierungsunternehmen, SHIMADZU und KRATOS ANALYTICAL, um leistungsstarke Fähigkeiten im Bereich der Materialanalyse zu liefern. Die ANALYTICAL SHIMADZU AXIS Supra verwendet eine Reihe fortschrittlicher Techniken, um genaue und detaillierte Informationen über die Zusammensetzung und Eigenschaften verschiedener Materialien bereitzustellen. Das System ist mit mehreren analytischen Modulen ausgestattet, darunter Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS), UV-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und Rasterschneckenmikroskopie (SAM). Diese Module sind nahtlos in eine einzige Plattform integriert, um umfassende analytische Möglichkeiten in der Oberflächenanalyse und elementaren Identifikation zu bieten. Die Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) ist eine Kerntechnik der ANALYTICAL KRATOS ANALYTICAL AXIS Supra, die die Charakterisierung von Materialoberflächen auf atomarer Ebene ermöglicht. Durch Bestrahlung der Probe mit Röntgenstrahlen kann die Einheit die emittierten Photoelektronen analysieren, um die elementare Zusammensetzung, den chemischen Zustand und die Bindungskonfiguration der Probe zu bestimmen. Diese Informationen sind entscheidend für das Verständnis der Oberflächenchemie von Materialien und für die Untersuchung von Oberflächenreaktionen und -prozessen. Neben XPS verfügt die ANALYTICAL AXIS Supra über eine ultraviolette Photoelektronenspektroskopie (UPS) zur Untersuchung elektronischer Eigenschaften von Materialien. UPS bietet wertvolle Einblicke in die Energieniveaus und Bandstrukturen von Materialien, die für das Verständnis ihrer elektronischen Eigenschaften wie Arbeitsfunktion, Fermi-Ebene und Bandlücke unerlässlich sind. Diese Technik ist besonders nützlich für Studien zur Halbleiterforschung, Katalyse und Oberflächenmodifizierung. Darüber hinaus verfügt die Maschine über eine Rastermikroskopie (SAM) zur hochauflösenden Oberflächenbildgebung und elementaren Abbildung. SAM kombiniert die Fähigkeiten der Auger-Elektronenspektroskopie mit der Rastermikroskopie, um die Oberflächentopographie zu visualisieren und die elementare Verteilung in komplexen Proben zu analysieren. Dieses Merkmal zeichnet Mehrkomponentenmaterialien, dünne Filme und Nanomaterialien mit hoher räumlicher Auflösung und Empfindlichkeit aus. Die ANALYTICAL SHIMADZU/KRATOS ANALYTICAL AXIS Supra ist mit fortschrittlicher Datenerfassungs- und Verarbeitungssoftware ausgestattet, um Instrumentenkontrolle, Datenanalyse und Interpretation zu erleichtern. Die benutzerfreundliche Oberfläche ermöglicht es Forschern, komplexe Experimente durchzuführen, Ergebnisse zu visualisieren und detaillierte Berichte mit Leichtigkeit zu erstellen. Das Tool bietet auch eine Reihe von Automatisierungsfunktionen für erhöhte Produktivität und Reproduzierbarkeit in experimentellen Workflows. Abschließend ist SHIMADZU AXIS Supra ein hochmodernes Spektrometervermögen, das beispiellose analytische Fähigkeiten für Oberflächenanalyse und Materialcharakterisierung bietet. Mit seinen fortschrittlichen Techniken, umfassenden Modulen und benutzerfreundlicher Software eignet sich dieses Instrument bestens für eine Vielzahl von Anwendungen in der Materialwissenschaft, Halbleiterforschung, Katalyse und Nanotechnologie. Forscher und Branchenexperten können sich darauf verlassen, dass die ANALYTICAL KRATOS ANALYTICAL AXIS Supra eine genaue, zuverlässige und eingehende Analyse von Materialien ermöglicht und somit bahnbrechende Entdeckungen und Innovationen in verschiedenen Bereichen ermöglicht.