Gebraucht ULVAC TOF-SIMS TFS-210 #9078417 zu verkaufen

ULVAC TOF-SIMS TFS-210 ist ein TriboField® Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS), das für fortgeschrittene Forschungs- und Entwicklungsanwendungen entwickelt wurde. Dieses TOF-SIMS-basierte Instrument (Time of Flight) hat eine hohe Auflösung und überlegene Massengenauigkeit und eignet sich somit ideal für die Oberflächencharakterisierung von Halbleiter- und organischen Materialien. TOF-SIMS TFS-210 System ist in der Lage, große Massenbereiche von wenigen amu bis zu mehr als 1500amu zu analysieren, mit einer Empfindlichkeit im niedrigen Massenbereich von bis zu etwa 50amu. Mit seinem hochpräzisen optischen Design bietet es eine hervorragende Massenauflösung mit isotopischer Peakabtrennung von monoisotopen Massen. ULVAC TOF-SIMS TFS-210 verfügt über eine tribofokussierte Quelle, die eine effiziente Massenspektrometrie auch kleiner Molekülionen ermöglicht. Darüber hinaus ist das System auch mit einer Elektrospray-Ionenquelle zur Analyse von Proben mit organischen Verbindungen und zur positiven Ionisation kleiner Moleküle ausgestattet. TOF-SIMS TFS-210 verfügt außerdem über ein zweistufiges Driftrohrsystem zur Auswahl der primären Ionen, so dass interessierende sekundäre Ionen von unerwünschten Ionen getrennt werden können. Das TOF-SIMS verfügt über fünf verschiedene Methoden zur Datenerfassung und ist damit vielseitig einsetzbar. Diese Programme umfassen das Übertragungsverfahren, ein dreistufiges Desorptionsverfahren, ein Verfahren zur Auswahl der variablen Energiemasse, ein Rückstoßionenverfahren zum Nachweis von Spurenarten und ein erosives Abbildungsverfahren, das Ionenbildung und Sputtertiefenprofilierung durchführen kann. ULVAC TOF-SIMS TFS-210 verfügt zudem über mehrere Softwareoptionen zur einfachen Probenvorbereitung und Datenverarbeitung. Tutorials und Schulungen stehen für diejenigen zur Verfügung, die einen vertieften Zugriff auf die Daten- und Analysefunktionen benötigen. Insgesamt ist TOF-SIMS TFS-210 mit seiner Kombination aus hochauflösender und überlegener Massengenauigkeit ein ideales Werkzeug zur tiefen Oberflächencharakterisierung. ULVAC TOF-SIMS TFS-210 ist mit seiner Flexibilität in der Probenvorbereitung und der benutzerfreundlichen Software perfekt für Forscher in den unterschiedlichsten Bereichen geeignet.