Gebraucht KDF 654i #293748451 zu verkaufen

Hersteller
KDF
Modell
654i
ID: 293748451
Sputtering system (4) Targets: TiO2, SiO2, AZO and Ag Targets spares: Silver target and copper backing plate Dual load lock In-line RF / DC Side sputtering DC Pulse CE Option S2-0706 Semiconductor Scan velocity profiling (4) Targets, 17" PC Remote console.
Die KDF 654i Sputterausrüstung ist ein hochmodernes Sputterabscheidungswerkzeug, das eine überlegene Schichtgleichförmigkeit und Abscheiderate steuert. Das Sputtersystem besteht aus zwei Sputterkathoden, zwei planaren Targets mit 6 "Durchmesser und zwei 5" x 8 "Substraten. Die Sputter-Kathoden werden von drei unabhängigen Gleichstrom (DC) -Netzteilen - zwei Gleichstromversorgungen und eine Gleichspannungsversorgung - mit einer Gesamtleistung von 135 kW gespeist. Die von den Sputterkathoden erzeugten Sputterionenstrahlen werden mit zwei langlebigen Magnetfelddetektoren nach unten auf den Substrattisch gerichtet. 654i Sputter-Abscheidungswerkzeug enthält auch einen erweiterten Controller, der eine präzise Steuerung der Sputter-Parameter, wie die Ionenstrahlenergie, Sputterrate und Schichthomogenität ermöglicht. Die in-situ Substrat-Temperatur-Steuereinheit (TCS), die eingebettete Thermoelemente verwendet, sorgt für eine hohe Gleichmäßigkeit von Ein- und Mehrschichtfolien. Der Substrattisch der KDF 654i Sputtermaschine ist mit einem ausgeklügelten Interlock Tool (ILS) ausgestattet, das eine Substratbewegung und -positionierung sowohl in X-Y- als auch in Winkelrichtung ermöglicht. Auch der Substrattisch ist für eine gleichmäßige Filmhaftung auf +/− 20 Grad kippbar. 654i Sputteranlage ermöglicht die Abscheidung einer breiten Palette von Material, von Metallen und Legierungen zu Verbundhalbleitern und Dielektrika. Das In-situ-Reinigungsmodell nutzt ein neuartiges Fernplasma-Reinigungsverfahren, das zur Entfernung von Oxiden, organischen Substanzen und anderen Oberflächenverunreinigungen hochwirksam ist. Die Plattform verfügt über Prozessüberwachungssysteme wie Infrarot-Pyrometer, Röntgenfluoreszenzanalyse (XRF) und Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR) zur Echtzeit-Überwachung der Schichteigenschaften. KDF 654i Sputtergeräte enthalten auch eine Hochvakuum-Turbomolekularpumpstation und einen Massenstromregler, so dass der Benutzer die interne Umgebung genau steuern kann. Um eine qualitativ hochwertige Abscheidung zu gewährleisten, umfasst das Sputtersystem 654i automatisierte Prozesskontrolltools wie In-situ Process Monitoring (IPM) und NEXUS™ Sputter-Überwachungsfunktionen. Dies ermöglicht es Benutzern, verschiedene Prozessvariablen zu überwachen, einschließlich der Abscheidungsrate, Filmzusammensetzung, Schichtgleichmäßigkeit und Sputtererosion. Insgesamt ist die KDF 654i Sputtereinheit ein Hightech-Sputterwerkzeug mit einer breiten Palette von Fähigkeiten, die eine hohe Qualität und eine sehr gleichmäßige Dünnschichtabscheidung ermöglichen. Mit seinen anspruchsvollen Steuerungs-, Verriegelungs-, In-situ-Reinigungs- und Prozessüberwachungssystemen bietet 654i hervorragende Schichteigenschaften und Prozesswiederholbarkeit.
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