Gebraucht ACCRETECH / TSK 902501 #9390981 zu verkaufen

ACCRETECH / TSK 902501
ID: 9390981
Wafer thickness measurement system.
ACCRETECH/TSK 902501 ist eine hochwertige und leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik. Es ermöglicht eine präzise Prüfung, Messung und Charakterisierung einer breiten Palette von Materialien und Komponenten für moderne elektronische Produkte und Systeme. Das System ist in der Lage, präzise elektrische Eigenschaften unterschiedlichster Materialien, von Wafern bis Chips, genau zu messen. Das Gerät verfügt über eine erweiterte optische Messtechnik-Fähigkeit, die es von der Konkurrenz unterscheidet. Die verwendete Lasertechnologie ermöglicht eine Hochgeschwindigkeits-berührungslose Messung von Waferoberflächen aus einer Vielzahl von Materialien, wie amorphem Silizium, Galliumarsenid, Diamant und anderen in der Halbleiterindustrie üblichen Materialien. Mit dieser fortschrittlichen Messtechnik ist die Maschine in der Lage, die elektrischen und optischen Eigenschaften von Proben bis zu 4 mm Dicke genau zu messen und ein Benutzer kann eine Fläche für die Messung von 0,1 bis 4 mm in der Größe zuweisen. TSK 902501 ist ein integriertes Werkzeug, das spezielle Testköpfe zur Messung bestimmter Parameter verwendet. Diese Vielseitigkeit eignet sich zur Charakterisierung und Verifizierung von Materialien wie Transistoren, Dünnschichttransistoren, ultradünnen Gateoxiden, High-K-Dielektrika und mehr. Die Anlage umfasst leistungsstarke berührungslose Testkopfsysteme für Kapazitäts- und CMOS-Testsysteme. Kapazitätsprüfköpfe messen DC bis 10MHz Frequenzbereich für eine genauere Auswertung der Kapazitätseigenschaften, während die CMOS-Köpfe Kapazität bis zu 100MHz messen. Diese Vielseitigkeit zur Nutzung der hohen Genauigkeit beider Testköpfe macht ACCRETECH 902501 ideal für eine Reihe von Messungen und Auswertungen. Das Modell ist hochgenau und wiederholbar und bietet dennoch eine hohe Geschwindigkeit der Messung einer breiten Palette von Materialien. Die Genauigkeit und Wiederholbarkeit sind sowohl mit einer 3 σ Unsicherheit von weniger als 0,1 nF, einer Betriebsstabilität in der Ebene von weniger als 0,1 nF und einer 0.001Ω Isolation gewährleistet. Mit dem leistungsstarken luftschwebenden Design des Geräts kann der Benutzer einfach und sofort Messergebnisse generieren. 902501 Wafer-Prüf- und Messsystem bietet eine zuverlässige, genaue und produktive Möglichkeit, präzise Tests, Messungen und Charakterisierungen einer Vielzahl von Materialien durchzuführen, die in fortschrittlichen elektronischen Produkten und Systemen verwendet werden. Diese vielseitige und leistungsstarke Einheit macht sie zur idealen Lösung für die Konstruktion und Prozessoptimierung von Halbleiterbauelementen.
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