Gebraucht ACCRETECH / TSK JP/E-RM-S07A #293637884 zu verkaufen

TSK JP/E-RM-S07A ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Qualitätssicherung in Halbleiterproduktionsumgebungen entwickelt wurde. Das System besteht aus einer Inspektions- und Analyseeinheit, einer integrierten Detektions- und Messeinheit und einer Steuer- und Kommunikationseinheit. Die Inspektions- und Analyseeinheit ist für die Erstqualitätssicherung von Rohwafern verantwortlich, bevor sie zur Verarbeitung geschickt werden. Das Gerät verwendet fortschrittliche Bildgebungstechnologie, um hochauflösende Bilder von jedem eingehenden Wafergesicht zu erfassen, was eine detaillierte Qualitätsprüfung ermöglicht. In der integrierten Detektions- und Messeinheit werden messtechnische Prüfungen durchgeführt. Es enthält einen mechanischen Arm und eine Reihe von Sensoren, die eine breite Palette von Wafereigenschaften messen, von der Gesamtform und -größe bis hin zu einzelnen Elementparametern. Diese Einheit ist auch in der Lage, hochgenaue Bildverfolgung, die die genaue Visualisierung von Defekteigenschaften ermöglicht. Schließlich sammelt die Steuer- und Kommunikationseinheit der Einheit Daten von den beiden anderen Einheiten und übermittelt sie an eine Datenbank oder andere externe Softwaresysteme. Dieses Gerät bietet dem Benutzer zudem eine intuitive Benutzeroberfläche, mit der er den gesamten Prozess in Echtzeit überwachen kann. ACCRETECH JP/E-RM-S07A Maschine ist die perfekte Lösung für jede Halbleiterproduktionsumgebung, die zuverlässige Qualitätssicherung benötigt. Durch die Kombination von Präzisionsbildgebung, hochauflösender Messtechnik und einer robusten Kommunikationsinfrastruktur ist dieses Tool in der Lage, den gesamten Prozess zu optimieren und zu automatisieren, von der eingehenden Waferinspektion bis zur Fehlercharakterisierung und Berichtsgenerierung.