Gebraucht ACCRETECH / TSK Surfcom 1900SD3 #293652637 zu verkaufen

TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die sich auf die Messung elektrischer Eigenschaften von Halbleiterscheiben spezialisiert hat. Surfcom 1900SD3 System ist mit einer Vielzahl von Messtechnologien ausgestattet, die die Leistung der Qualitätskontrolle für das Endprodukt gewährleisten. Einige der Schlüsseltechnologien auf dieser Einheit enthalten sind optische Inspektion, elektrische Charakterisierung, sowie Prozess-Zertifizierung. Die optische Inspektionsmaschine von TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3 verwendet ein hochauflösendes CCD-Kamerawerkzeug, das Fehler und Funktionsgrößen bis zu 0,02 erkennt und analysiert. Die Anlage ist auch in der Lage, Einkristall-Wafer bis 300mm Durchmesser zu messen. Der elektrische Charakterisierungsaspekt von Surfcom 1900SD3 misst die elektrischen Eigenschaften jedes Wafers. Das Modell verwendet eine fortschrittliche Methode, um Daten über Widerstand, Kapazität, Stromverteilung auf dem Wafer und andere wichtige elektrische Eigenschaften zu sammeln. TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3 ist ebenfalls mit einer Prozesszertifizierungsanlage ausgestattet. Dieses Merkmal führt Tests nach dem vom Hersteller angegebenen Verfahren durch; die Analyse der Daten wird dann mit dem Ergebnis des vorgegebenen Prozesses verglichen. Surfcom 1900SD3 ist ein benutzerfreundliches System, das auch Fernbedienung Zugang bietet. Dies ermöglicht die Fernbedienung von Testparametern sowie die Fernbetrachtung der erhaltenen Ergebnisse und die Durchführung von Echtzeitänderungen direkt vom Zentrum aus. Einer der vorteilhaftesten Aspekte von TOKYO SEIMITSU Surfcom 1900SD3 ist seine hohe Positions- und Winkelgenauigkeit. Dies gewährleistet eine genaue, wiederholbare Prüfung und Messung kleiner Merkmalsgrößen. Diese Einheit ist nicht nur genau, sondern auch sehr schnell. Es kann Ergebnisse von Wafern bis zu 200mm Durchmesser in nur 30 Sekunden liefern. Surfcom 1900SD3 ist eine fortschrittliche, zuverlässige Maschine zum Testen und Messen von Halbleiterscheiben. Mit seiner Vielfalt an Messtechnologien und hoher Genauigkeit ist es das perfekte Werkzeug für die Qualitätskontrolle und Prozesszertifizierung.