Gebraucht ACCRETECH / TSK Surfcom 578A #9399109 zu verkaufen

ACCRETECH/TSK Surfcom 578A ist eine leistungsstarke und vielseitige Wafer-Prüf- und Messtechnik, die in der Halbleiterverarbeitung eingesetzt wird. Mit den fortschrittlichen Funktionen und der leistungsstarken Verarbeitungsleistung des Systems können Wafer verschiedener Größen und Typen mit beispielloser Präzision und Geschwindigkeit getestet werden. Das Gerät kommt mit Bildgebungs- und Analyse-Software-Tools wie Profil, Geschwindigkeit und Fehlererkennung. Diese Tools liefern quantitative Informationen, die es Anwendern ermöglichen, den Wafer in jeder Phase des Produktionsprozesses genau zu analysieren und zu optimieren. TSK Surfcom 578A verfügt über eine hochpräzise Scanstufe, einen großen Betrachtungsbereich und eine breite Palette integrierter mechanischer und optischer Sensoren. Dies ermöglicht eine Vielzahl von Messungen und Analysen am Wafer, einschließlich zerstörungsfreier Sondierung, Mehrfachansicht und Vielschichtigkeit. Die Maschine ist so konzipiert, dass sie höchste Qualitätsergebnisse mit einer Wirtschaftlichkeit für unterschiedliche Budgets gewährleistet. ACCRETECH Surfcom 578A bietet fortschrittliche Software-Tools, um spezielle Testalgorithmen zu erstellen und spezifische Prozesse zu reproduzieren, um Wafer-Testumgebungen zu simulieren. Es hat auch die Fähigkeit, Rezepte für weitere Implementierung und Vergleich zu speichern, um die Konsistenz zu überprüfen. Die integrierten Algorithmen zur Bildanalyse und Fehlerüberprüfung ermöglichen es dem Benutzer, Infrastruktur, Oberflächenunregelmäßigkeiten und feine Funktionsfehler zu untersuchen und zu untersuchen. Die mehrschichtigen Scan-, Bild- und Feineinstellfunktionen des Werkzeugs ermöglichen es Benutzern, genaue und detaillierte Bilder des Wafers zu erhalten. Die Anlage kann auch eine Reihe von komplexen Messungen wie statische und dynamische Oxiddicke, Foliendicke, Oberflächenebenheit und optische Inspektionen ohne physikalischen Kontakt durchführen. Das Modell wurde entwickelt, um höchste Qualität zu gewährleisten und ist eine geeignete Wahl für hochvolumige, ultrahochpräzise Wafertests und Messtechnik.