Gebraucht ADE 9600 #9214451 zu verkaufen
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Verkauft
ADE 9600 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die speziell für die Messung von Defekten an und die Leistung von Flachbildschirmen und Flachbildschirmkomponenten während der Herstellung entwickelt wurde. Dieses System ist in der Lage, Fertigungsfehler während des Herstellungsprozesses zu identifizieren und zu beheben, um ein Produkt von höchster Qualität zu gewährleisten. 9600 Einheit besteht aus einem mehrachsigen Kopf, der auf einem Test Handler montiert ist, für Test- und Messtechnik-Lösungen. Der Test Handler ist in der Lage, jede Flachbildschirmgröße von bis zu 3m x 3m zu handhaben. Die Maschine verfügt auch über Sichtfunktionen, um schwache Fehler auf den Displays zu analysieren und zu identifizieren. Es ist mit einer Vielzahl von erweiterten Optiken wie einem Profiler, Zeilenscan und Linienabtastprojektoren ausgestattet, um Fehler auf den Displays zu messen und zu analysieren, und kann Parameter wie Schritthöhen, Dichtungsbreiten und Ebenheit messen. ADE 9600 ist auch mit einer Reihe von erweiterten Messfunktionen konzipiert, einschließlich LabeVIEW-basierte Datenerfassung, Bildkorrektur und Datenverarbeitung, sowie NGen-powered Inspektion und Analyse. Diese Funktionen ermöglichen den Abschluss einer Vielzahl von Tests, wie Temperaturzyklustests, Einheitlichkeitstests von Panel zu Panel und Tests der Produktleistung. Das Werkzeug wurde mit robuster Zuverlässigkeit entwickelt. Der Prüfprozess ist sehr genau und reproduzierbar, was bedeutet, dass Chargen von Displays mit der gleichen Zuverlässigkeit wie einzelne Einheiten getestet werden können. Darüber hinaus ist 9600 mit einer adaptiven Geschwindigkeitsregelung in Echtzeit konzipiert, die einen reibungslosen, konsistenten Testprozess gewährleistet. Insgesamt ist ADE 9600 ein fortschrittliches Gerät für Wafertests und Messtechnik, das die genaueste Charakterisierung von Flachbildschirmen und Flachbildschirmkomponenten ermöglicht. Seine robusten Eigenschaften und Fähigkeiten machen es zu einer idealen Lösung für Wafertests und messtechnische Anwendungen.
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