Gebraucht ADE / KLA / TENCOR 3910 #149419 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR 3910 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für den Einsatz in Halbleiter-Messtechnik-Laboren entwickelt wurde. Dieses System ermöglicht die Charakterisierung und Zuverlässigkeitsprüfung verschiedener Halbleiterbauelemente, so dass Unternehmen ihre Produktqualifikation und Produktionsanforderungen erfüllen können. ADE 3910 besteht aus dem 39100 Analyzer, der 39130 Automated Measurement Machine (AMS) und dem 39165 Automated Solder Measurement Tool (ASMS). Der 39100 Analyzer verfügt über ein 7-Achsen-Positioniergerät und eine hochauflösende CCD-Kamera. Diese Kombination ermöglicht berührungslose, zerstörungsfreie Messungen der Waferoberfläche, einschließlich kritischer Abmessungen (CDs), Sichtprüfung, Dünnschichtanalyse und Stempelmessungen. Das 39130 AMS wurde entwickelt, um die Analyse von mehrachsigen, mehrachsigen messtechnischen Daten zu handhaben, die es ermöglichen, sowohl die obere als auch die untere Oberfläche eines Wafers gleichzeitig zu testen und zu messen. Dieses Modell kann sowohl große als auch kleine Strukturen handhaben und verfügt über eine hochauflösende Spotgröße-Scankamera und zwei parallele Scanner zur Probenpositionierung, die qualitativ hochwertige Oberflächenscans von Funktionen bis hin zur 5-Mikrometer-Auflösung ermöglichen. Das 39165 ASMS wurde speziell entwickelt, um die Integrität von Lötverbindungen und Bondpads auf Halbleiterscheiben zu testen und zu messen. Es erfasst automatisch Bilder der Lötstöße und kann deren Höhe und Breite mit einer hohen Genauigkeit von 0,5 Mikrometer messen. Darüber hinaus ist das Gerät entworfen, um Hohlräume, Kugeln, Knoten und andere Mängel an Lötstellen zu erkennen. Zusätzlich zu den Qualitätssicherungssystemen bietet KLA 3910 ein breites Spektrum an messtechnischen Werkzeugen auf Waferebene, einschließlich Weichdefekt- und Ursachenanalyse, Phasenschlupfdefekterkennung, Fehlerüberprüfungsgeschwindigkeit sowie weiträumige und linienbreite Gleichförmigkeitsmessungen. 3910 System verfügt auch über eine Kalibrierung Dienstprogramm, die Messtechnik Messungen und automatisierte Analysen von Die-Level-Topographie Daten feinabstimmen kann. Insgesamt ist TENCOR 3910 eine All-in-One-Einheit, die die Fähigkeiten mehrerer anspruchsvoller Messtechnik-Systeme vereint. Es ermöglicht die vollständige Analyse von Halbleiterwafern, um die Leistung und Zuverlässigkeit der Halbleiterprodukte zu gewährleisten. Mit seiner Flexibilität und Genauigkeit bietet ADE/KLA/TENCOR 3910 Ingenieuren eine komplette und zuverlässige Charakterisierungslösung.