Gebraucht ADE / KLA / TENCOR 3910 #9301295 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR 3910 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches automatisiertes System zur Bewertung von Veränderungen in Halbleiterbauelementen und Materialien wie Wafern. Das Gerät ist mit Makro- und Mikroinspektionssystemen ausgestattet, um genaue Daten über den Zustand des Wafers bereitzustellen. Die Makro-Inspektionsmaschine prüft eine gesamte Waferoberfläche und ist in der Lage, große Lithographie-bezogene Ertragsprobleme zu erkennen. Das Mikroinspektionswerkzeug verwendet hochauflösende Bildgebung und Spektroskopie, um einzelne Defekte bei Auflösungen von 0 zu erkennen. 5 μ m oder höher. Die Anlage ist mit Transport- und Staging-Hardware zum Indexieren und Transportieren von Wafern in Stationen und durch den Inspektions- und Messtechnik-Prozess ausgestattet. Dieses Modell wurde entwickelt, um Echtzeit-Ein-/Ausgabesteuerung von Prozessen und Arbeitsabläufen bereitzustellen. Darüber hinaus verfügt ADE 3910 über einen fortschrittlichen Gerätecontroller, der Datenübertragung, Wafer-Handhabung, Inspektion und Messsoftware für Halbleiter-Wafer-Tests integriert. Die UCK 3910 ist in der Lage, bei Auflösungen bis 0,3 μ m eine schnelle Fehlererkennung durchzuführen. Das System verwendet automatisierte Fehlererkennungstechniken anstelle der arbeitsintensiven manuellen mikroskopischen Inspektion. Dies hilft, Daten schnell und präzise bereitzustellen. Die Einheit kann auch optische Eigenschaften wie Widerstand, Topographie, Dunkelstrom, Flächenwiderstand und Kapazität messen. Die Maschine hat auch erweiterte Funktionen Messtechnik einschließlich Rauheit, Oberflächentopographie, Profil, Ebenheit, Höhe und mehr. Dies ermöglicht die Analyse von KE-Linearität, kritischen Bemaßungen, Overlay und mehr. 3910 ermöglicht auch die Messung von 3D-Formen einschließlich Höcker und Pads mit Mikrogenauigkeit. Insgesamt ist das TENCOR 3910 Wafer Testing and Metrology Tool ein fortschrittliches automatisiertes Wafer-Test- und Messtechnik-Tool, das entwickelt wurde, um genaue Daten schnell und effizient für moderne Halbleiterbauelemente und -materialien bereitzustellen. Mit einer breiten Palette von hochauflösenden bildgebenden und messtechnischen Fähigkeiten ist ADE/KLA/TENCOR 3910 eine ideale Wahl für Halbleiterwafertests und messtechnische Anwendungen.