Gebraucht ADE / KLA / TENCOR 7000 #9239664 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR 7000 ist ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnikgerät, das von ADE Technologies entwickelt wurde. Diese vielseitige Plattform wurde entwickelt, um Wafer mit einem Durchmesser von bis zu sieben Zoll zu testen, zu messen und zu inspizieren. Es ist für jeden Wafertyp geeignet, mit der Fähigkeit, kristalline und Halbleitermaterialien, SOI, MEMS und andere Mikrobauelementsubstrate aufzunehmen. Das System basiert auf einer patentierten die-die Anordnungstechnologie, die völlig automatisierte kluge Scan-Stadien mit der hochauflösenden Balkenbildaufbereitung verbindet, um genaue Oblate kartografisch darstellend und Defektüberwachung zu bieten. Die universelle Wafer-Handhabungseinheit unterstützt eine breite Palette von Wafertypen und bietet eine komplette Wafer-Abdeckung für zuverlässige Tests und Messtechnik. Mit seinen umfassenden messtechnischen Fähigkeiten liefert es hochgenaue Messungen von Fein- und Makromerkmalen. Seine Oberflächen- und berührungslosen Techniken sind in der Lage, kleine Defekte auf hochglanzpolierten Oberflächen zu erkennen, mit Merkmalsmessungen bis in den Nanometerbereich. Weitere Merkmale sind die Mustererkennung und 3D-Formmessung der Oberflächenvariation sowie eine gründliche Schadstoffprüfung. Die Maschine wird mit der hybriden Hochleistungsbildverarbeitungsfähigkeit mit dem direkten Zugang zu komplizierten Prozesssteuerungsdaten ausgestattet. Das integrierte Berechnungsmodul ermöglicht eine erweiterte Fehleranalyse, einschließlich Profilierung von Größe, Anzahl, Position und anderen Parametern. Die Software ermöglicht auch die schnelle, einfache Erfassung und Verteilung von Bildern, Videos, Daten und Berichten auf jeden Bildschirm oder Monitor. Für die Prozessintegration ist das Tool mit fortschrittlichen Automatisierungsprotokollen konzipiert, die eine einfache Integration in bestimmte Fertigungsnetzwerke ermöglichen. Seine ausgeklügelte Software-ausgestattet Asset hilft auch bei der Automatisierung der Geräteparameter-Messung, mit Fehlererkennung und Reporting und Echtzeit-Datenprotokollierung. ADE 7000 ist ein zuverlässiges Wafer-Prüf- und Messtechnik-Modell, das effiziente und zuverlässige Ergebnisse für Branchen wie Halbleiter, Zuverlässigkeit, Messtechnik und andere liefert. Die vollautomatisierten intelligenten Scanstufen und die hochgenaue Strahlabbildung in Kombination mit fortschrittlichen messtechnischen Funktionen machen es zu einer idealen Wahl für die Prüfung und Messung von Wafern mit einem Durchmesser von bis zu sieben Zoll.