Gebraucht ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645326 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein robustes System, das fortschrittliche Bildprüfung, vollständig integrierte Messtechnik und automatisierte Wafer-Handling-Technologie kombiniert, die die Bewertung verschiedener Wafer-Parameter ermöglicht. Mit seinen einzigartigen „Dual-Energy“ -Bildgebungs- und fortschrittlichen Messtechnik-Systemen wird ADE AFS 3220 in der Halbleiterindustrie eingesetzt, um die Gleichmäßigkeit von Partikeln, Beulen und anderen Defekten auf Siliziumsubstraten zu identifizieren und zu messen. Das Gerät ist das erste seiner Art, entwickelt mit einer patentierten Dual-Energy-Bildgebungstechnik, die zwei Bilder auf einmal aufnehmen kann, wobei jedes Bild ein unterschiedliches Wellenlängenspektrum darstellt. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse der Partikel, Beulen und anderer Unregelmäßigkeiten auf der Waferoberfläche sowie einen effizienten Vergleich über ähnliche Substrate hinweg, um eventuelle Unterschiede zu erkennen. Die KLA AFS 3220 verfügt auch über erweiterte messtechnische Fähigkeiten, die eine genaue Messung und Charakterisierung von Partikeln, Beulen und anderen Unregelmäßigkeiten auf der Waferoberfläche ermöglichen. Dies beinhaltet die Möglichkeit, Größe, Form und Position der KEs zu messen, sowie die Möglichkeit, Daten zu erzeugen, die die Variation über die Oberfläche des Wafers anzeigen. Die Maschine umfasst auch ein automatisiertes Wafer-Handling-Tool, das die Vorteile einer intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und eines automatisierten Roboters nutzt, der Wafer von AFS 3220 be- und entladen kann. Dadurch wird sichergestellt, dass die Wafer sicher, sicher und effizient gehandhabt werden, was Ausfallzeiten reduziert und die Gesamtgeschwindigkeit und Genauigkeit des Inspektionsprozesses erhöht. Die AFS 3230 wurde entwickelt, um einen hohen Durchsatz und kostengünstige, genaue und zuverlässige Ergebnisse in einem einzigen, in sich geschlossenen Vermögenswert. Das Modell ist in der Lage, Unregelmäßigkeiten und Defekte automatisch zu überprüfen, Partikel, Beulen und andere Unregelmäßigkeiten auf verschiedenen Substraten in wiederholbarer und konsistenter Weise zu sortieren und zu messen. Durch die Kombination der fortschrittlichen Bildgebungs- und Messtechnik mit einer automatisierten Wafer-Handhabungsausrüstung bietet TENCOR AFS 3220 die optimale Lösung für Halbleiterhersteller, um ihre Produktionslinien mit höchster Qualität und Effizienz am Laufen zu halten.