Gebraucht ADE / KLA / TENCOR AFS 3220 #293645328 zu verkaufen
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ID: 293645328
Wafergröße: 12"
Weinlese: 1999
Wafer inspection system, 12"
1999 vintage.
ADE/KLA/TENCOR AFS 3220 ist eine Hochleistungs-Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für Halbleiterbauelemente und Materialcharakterisierung optimiert ist. Dieses System verfügt über eine patentierte automatische Lade- und Entladefähigkeit, die Wafer bis zu 8 Zoll Durchmesser bequem handhabt. Mit einer vollautomatischen Fokusstabilisierungstechnologie (AFS) behält das Gerät automatisch einen stabilen Fokus bei Wafer-Referenzierungs- und Messtechnik-Operationen, auch wenn sich die Position des Wafers ohne manuelle Anpassung ändert. ADE AFS 3220 Maschine bietet eine Reihe von leistungsstarken messtechnischen Funktionen für den Benutzer, beginnend mit einer oberen und unteren Oberfläche Scannen und bildgebende Funktionen. Die fortschrittliche optische Technologie, die in das Tool integriert ist, bietet mehr Präzision und Genauigkeit als herkömmliche Methoden und verbessert die Wiederholbarkeit der Messung. Mit seinem hochauflösenden Scannen können Benutzer Mikrodefekte und bildgebende Artefakte erkennen, die Waferabfälle erheblich reduzieren können. Für Fehler-/Partikelerkennung, traditionelle CD-Messtechnik und andere automatisierte Messtechnik sorgen fortschrittliche Software-Algorithmen dafür, dass schnell hochgenaue Ergebnisse erzielt werden. Neben seiner unübertroffenen Leistung bietet KLA AFS 3220 Wafer Test und Metrologie eine breite Palette weiterer Funktionen und Vorteile, wie ein speziell entwickeltes automatisiertes Fehlerüberprüfungsmodell, mit dem Benutzer Fehler schnell erkennen und mit hoher Genauigkeit qualifizieren können. Dieses Gerät verfügt auch über anpassbare Testrezepte, um Systemparameter entsprechend der Art des zu probierenden Produkts anzupassen - was hilft, Ertrag und Durchsatz zu verbessern. Weitere Merkmale von TENCOR AFS 3220 sind ein extrem geräuscharmes Design für Messungen mit hoher Genauigkeit und eine erweiterte Vision-Einheit für umfassende Wafer-Registrierung, Sub-Pixel-Ausrichtung und Fehlererkennung und -qualifikation. Abschließend bietet die AFS 3220 Wafer-Prüf- und Messtechnik-Maschine eine effiziente und zuverlässige Lösung für die Geräte- und Materialcharakterisierung. Mit Ober- und Unterflächenscannen, fortschrittlicher Fokusstabilisierungstechnologie, automatisiertem Fehlerüberprüfungstool, anpassbaren Testrezepten, ultra-geräuscharmem Design und fortschrittlichem Vision-Asset bietet das Modell seinen Benutzern konsistent genaue Ergebnisse.
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