Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Measuring probe for 9500 UltraGage #9233398 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Messsonde für 9500 UltraGage ist eine digitale Messtechnik für Wafer-Prüf- und Inspektionsanwendungen. Es wurde entwickelt, um präzise Messungen der Wafer-Topographie, Linienbreiten und kritischen Abmessungen im Nanometerbereich bereitzustellen. Die Sonde ist hochgenau und kann sowohl für planare als auch für 3D-Topographiemessungen von Halbleiterscheiben verwendet werden. ADE Messsonde für 9500 UltraGage bietet durch ihr innovatives Design eine hervorragende Leistung. Die Sonde ist mit fortschrittlichen Sensoren integriert, einschließlich eines kapazitiven Sensorarrays, das entwickelt wurde, um Spannungsänderungen auch in den kleinsten Merkmalen zu erkennen. Andere Komponenten, wie ein Encoder und ein Verschluss, bieten genaue und wiederholbare Messungen. Die Sonde enthält außerdem einen On-Board-Prozessor und ein Laser-Detektionssystem, das eine schnelle Analyse detaillierter Merkmale ermöglicht. KLA Messsonde für 9500 UltraGage enthält auch ein programmierbares Messtechnik-Softwarepaket. Mit diesem Paket können Anwender ganz einfach neue Messverfahren einrichten und Einstellungen für jede Anwendung optimieren und anpassen. Die integrierten Kantenerkennungsfunktionen bieten genaue Messungen von Linienbreiten und anderen kritischen Bemaßungen. Die Software ist für den Einsatz in hochautomatisierten, hohen Produktionsumgebungen konzipiert und ermöglicht effektive Wafertests und Messtechnik. Messsonde für 9500 UltraGage ist eine zuverlässige und kompakte Einheit. Der modulare Aufbau ermöglicht es Anwendern, die Maschine schnell und einfach für ihre spezifischen Anforderungen zu konfigurieren. Die Sonde ist auch mit ADE Digital Image Analysis Systemen kompatibel, die die Genauigkeit der Messungen weiter erhöhen. TENCOR Messsonde für 9500 UltraGage ist entworfen, um hochpräzise Messungen der Wafer Topographie und Linie/Raum Breiten mit Nanometergenauigkeit zur Verfügung zu stellen. Das innovative Design in Verbindung mit einem leistungsstarken Softwarepaket macht diese Sonde ideal für Wafertest- und messtechnische Anwendungen in Hochdurchsatzumgebungen.