Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9269080 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 wafer testing and metrology equipment ist ein präzises Instrument zur zerstörungsfreien Auswertung von Halbleiterscheiben. Es verwendet genaue optische Abtasttechnologie, um genaue Messungen der Waferdicke, Topographie, Oberfläche, Materialzusammensetzung und Brechungsindex bereitzustellen. Das System ist in der Lage, mehr als ein Dutzend kritischer Parameter zu messen, einschließlich durchschnittlicher Filmdicke, Standardabweichung, Schichtwiederholbarkeit, Filmrate, Ebenheit und Rauheit. ADE Microsense 6033 verfügt über eine leistungsstarke, leistungsschwache Beleuchtungsquelle für konsistente, hochauflösende Tests und Messtechnik. Diese Lichtquelle projiziert Mikrostrahlen aus Laserlicht in einem Muster über die Probenscheibe, um jeden Punkt innerhalb des Musters genau zu messen. Dieses einzigartige Muster trägt dazu bei, Wiederholbarkeit und Gleichmäßigkeit der Testergebnisse sicherzustellen. Darüber hinaus verfügt das Gerät über einen fortschrittlichen Wafer-Nivellierer, der Proben-Wafer-Krümmung, Dicke und Rauheit Auffälligkeiten über die gesamte Oberfläche genau misst. Diese Funktion gewährleistet genaue und präzise Messungen während des Auswertungsprozesses. Die KLA Microsense 6033 verfügt zudem über eine integrierte Maschine aus Optik, Elektronik und Software. Dazu gehören eine eingebaute CCD-Kamera, digitale Bilderfassung und Signalverarbeitungsfunktionen, die zu schnellen und genauen zerstörungsfreien Wafertests und Messungen führen. Das Tool bietet Anwendern eine umfassende Palette von Datenanalysetools, darunter zweidimensionale grafische Darstellung, Histogramme und tabellarische Datensätze. Diese Bereicherung hat viele praktische Anwendungen in der Halbleiterindustrie. Es kann für schnelle Wafer-Inspektion, Dotierstoff-Mapping, Marker-Muster-Inspektion, schnelle Fehleranalyse, Prozess-Audit und Wafer-Charakterisierung verwendet werden. Microsense 6033 ist sehr zu empfehlen für seine einfache Bedienung, erweiterte Funktionen und hohe Genauigkeit Messungen. Das umfangreiche Sortiment an optoelektronischen Steuerungs- und Bildgebungsfunktionen bietet Anwendern die notwendigen Werkzeuge, um kritische Probleme sicher zu identifizieren und zu lösen. Das Modell hat sich als wertvolles Werkzeug unter vielen branchenführenden SEMs, Wafer-Herstellern und Testprofis erwiesen.