Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9281712 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Präzisionsanalyse von Waferschnittkanten, Laminierungsdicken und Beschichtungsdicken nach dem Ätzen entwickelt wurde. Das System enthält eine Reihe innovativer Funktionen, die eine genaue Prüfung in einer Vielzahl von Probengrößen ermöglichen. Die ADE Microsense 6033 ist mit einer dreiachsigen servogesteuerten Stufe und einer hochpräzisen optischen Messtechnik ausgestattet. Die Messtechnik-Einheit kombiniert ein Weißlicht-Interferometer, ein Ellipsometer und ein Polarizometer, um sowohl absolute als auch relative Messungen der Probendicke und Schichtdicken bereitzustellen. Das Gerät verfügt auch über eine Wafer Process Library, um die Wiederholbarkeit und Rückverfolgbarkeit von Messungen zu erleichtern. Die servogesteuerte Stufe ermöglicht eine breite Palette automatisierter Tests wie Messung von Waferschnittkanten, Nachätzkaschierdicken und Beschichtungsdicken. Die Maschine unterstützt auch fortschrittliche automatisierte Tests wie Beschichtungsdicke, Haftfestigkeit, Planität, Laminierung und Oberflächenstruktur. KLA Microsense 6033 ist in der Lage, Wafer so klein wie 100um und so groß wie 200mm mit der höchsten Genauigkeit zu messen. Weitere Funktionen sind Einzel- oder Batchscannen, Datenerfassung und Datenanalyse über USB, GPIB und RS-232 Schnittstellen. Das Tool ist auch in der Lage, grafische Darstellung von Messungen wie SPC-Charts und Gage Repeatibility and Reproducibility (GR&R) Diagramme zu erzeugen. TENCOR Microsense 6033 wurde entwickelt, um die härtesten Anforderungen der Halbleiterindustrie in Bezug auf Genauigkeit, Geschwindigkeit und Zuverlässigkeit zu erfüllen. Das Asset ist auch an spezifische Anforderungen einzelner Anwendungen anpassbar. Das Modell kann auch mit einer Vielzahl anderer ADE-Produkte wie dem Wafer Verifier-32 und Wafer Verifier Pro integriert werden. Microsense 6033 ist ein intuitives und leistungsstarkes Werkzeug zur Messung kritischer Messparameter moderner Halbleiterscheiben. Seine fortschrittlichen Eigenschaften und automatisierten Tests machen es zu einer idealen Ausrüstung für Produktion, Prozessentwicklung, Qualitätskontrolle und Forschungslabors. Für die anspruchsvollsten Aufträge ist ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 die perfekte Lösung für präzise Messungen mit hervorragender Wiederholbarkeit.