Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033 #9301382 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033 ist ein umfassendes System zur Materialcharakterisierung und automatisierten Messtechnik in der fortschrittlichen Wafertechnik. Das System besteht aus einem laserinterferometrischen Scanner, einer Verarbeitungseinheit und einer Reihe von zusätzlichem Zubehör zur Steuerung und Messung von Parametern für Wafertests. Der Laser-Interferometrie-Scanner wurde speziell für hochgenaue Messungen mit seinen patentierten hochauflösenden Vektorlichtsensoren entwickelt. Es kann schnell eine Vielzahl von Topographiedaten analysieren, einschließlich Schritthöhen, Oberflächenrauhigkeit und Ebenheit. Die Verarbeitungseinheit enthält zwei hochauflösende Bildsensoren, zwei digitale Signalverarbeitungseinheiten (DSP) und zwei unabhängige 16-Bit-Rechenprozessoren zur verbesserten Datenverarbeitung. Es verfügt außerdem über einen vierkanaligen digitalen Bildprozessor für die Echtzeit-Bildanalyse und eine Speicherkapazität von bis zu 32 GB. Das zusätzliche Zubehör umfasst einen mehrstufigen Teleskopkopkopf zur einfachen Höhenverstellung, ein hochauflösendes farbiges LCD-Display zur Datenvisualisierung und eine schnelle Datenübertragungsfähigkeit zur schnellen Datenerfassung. Um Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu gewährleisten, verwendet das System einen patentierten Multi-Pass Algorithmus (MPA) in seiner Software für die automatisierte Datenerfassung. Das MPA kompiliert Daten aus mehreren Durchgängen in einem einzigen Scan, um höchste Genauigkeit zu gewährleisten. Die optimierte Scangeschwindigkeit sorgt für eine schnelle Analyse, ohne die Qualität der Daten zu beeinträchtigen. Darüber hinaus ist das Gerät mit einer Reihe von Funktionen zum Schutz der zu testenden Probe, wie Anti-Vibrations-Montagefüße und eine spezielle Staubkammer, um die Wirkung von Staub auf Daten zu reduzieren. ADE Microsense 6033 hat eine Reihe von Anwendungen, von der Charakterisierung von Halbleiterscheiben bis zur Messung der Oberflächenkontamination jeder komplexen Oberfläche. Es kann auch verwendet werden, um die Dicke von dielektrischen, Gas- und Flüssigkeitsschichten auf Substraten zu messen. Die KLA Microsense 6033 ist mit ihrer hohen Genauigkeit, schnellen Scangeschwindigkeit und fortschrittlichen Funktionen ideal für messtechnische Tests geeignet und hat sich als eines der zuverlässigsten Wafertest- und Messtechniksysteme erwiesen.