Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9272589 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T Geräte sind ein modernes Wafer-Prüf- und Messtechnik-System, das auf ultimative Leistung ausgelegt ist. Diese Einheit kombiniert die integrierten Lösungen sowohl von ADE Acuity Detektor als auch von KLA WaferMapper Softwareplattformen, was eine höhere Geschwindigkeit und Agilität bei Wafertests und umfassende messtechnische Ergebnisse ermöglicht. ADE Microsense 6033T enthält einen erweiterten Röntgendetektor, der in der Lage ist, Bilder bis zu 4K in Auflösung in extrem kurzer Zeit zu erfassen. Diese Maschine verfügt über eine variable Belichtungszeit und Dynamikbereichseinstellung, die eine schnelle und genaue Bildbearbeitung und präzise Bildbearbeitung ermöglicht. Der Röntgendetektor von KLA Microsense 6033T kann selbst bei hoher Hintergrundstrahlung einen Dynamikbereich von bis zu 5000:1 erreichen, der die Erfassung präziser Details auch in den anspruchsvollsten Testumgebungen ermöglicht. Das Tool wird von der TENCOR WaferMapper-Software angetrieben und ermöglicht die automatisierte Erkennung und Messung von Oberflächenmerkmalen, Partikelanzahl, Hohlraumfraktion und anderen Waferparametern. Diese Software ist mit einer Reihe von erweiterten Analysetools für schnelle und zuverlässige Analyse ausgestattet, so dass Benutzer potenzielle Fehler und andere Probleme während des Tests und der Messtechnik schnell erkennen können. Der integrierte ADE/KLA/TENCOR Acuity DetectorADE WaferMapper Asset ist in der Lage, indepth Wafer Mapping und Stanztests schnell und präzise durchzuführen. Dieses Modell ermöglicht eine umfassende Abdeckung des gesamten Wafers und bietet gleichzeitig eine sehr detaillierte Analyse der einzelnen Matrize. Es kann verwendet werden, um eine breite Palette von Wafertests durchzuführen, einschließlich schnelles Spektralmapping, Röntgenmapping, Topologie-Mapping und Oberflächenrauhigkeit und Merkmalserkennung. TENCOR Microsense 6033T Geräte wurden entwickelt, um die anspruchsvollen Anforderungen der heutigen Wafer-Test- und Messtechnik-Anwendungen zu erfüllen. Mit seinen robusten bildgebenden Fähigkeiten und umfassenden Analysewerkzeugen ist es eine ideale Lösung für schnelle und zuverlässige Wafertests und Messtechnik.