Gebraucht ADE / KLA / TENCOR Microsense 6033T #9281713 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR Microsense 6033T ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die eine hohe Präzision und Genauigkeit bei der Messung von Dünnschichtdicke und kritischen Abmessungen bei der Herstellung von Wafern ermöglicht. Das System ermöglicht eine hochauflösende, zerstörungsfreie Messtechnik von Dünnschichtstrukturen über die gesamte Waferoberfläche ohne zusätzliche, aufwendige optische Mikroskope. Dies ermöglicht eine zuverlässigere und schnellere Wafer-Prüfung und -Messung, was letztlich die Ausbeuten und Produktivität des Wafer-Herstellungsprozesses verbessert. Das Gerät ist auf einer gehärteten, geschlossenen, autofähigen Plattform aufgebaut, die eine schnelle und genaue Umsetzung der neuesten Messtechniken gewährleistet. Die Maschine kombiniert eine hohe optische Auflösung und einen digitalen Bildprozessor, um detaillierte Karten topographischer Abmessungen auf der Oberfläche des Wafers bereitzustellen. Dies ermöglicht eine präzise Visualisierung und Analyse auch kleinster Merkmale und ermöglicht schnelle und genaue Messungen. Das Werkzeug ist mit zwei Signalstrahlen und zwei Detektorarrays für maximale Definition und Genauigkeit ausgestattet, während die Messung über einen breiten relativen Bereich von Substratmaterialien und Anwendungen. Die kombinierten Signalstrahlen und Detektorarrays ermöglichen über 10.000 Messungen/Sekunde. Dies macht es zu einem idealen Messtechnikwerkzeug für fortgeschrittene ICs und WLP-Strukturen. Mit integrierter Software zur Überwachung der Leistung und zur Erkennung von Fehlfunktionen kann das Asset seine eigene Leistung kontinuierlich überwachen und bei Bedarf Korrekturen vornehmen, um einen genauen Durchsatz zu gewährleisten. ADE Microsense 6033T ist auch mit einer Reihe von benutzerfreundlichen Funktionen, die eine einfache Einrichtung und Bedienung ermöglichen gebaut. Dies beinhaltet eine automatisierte Ausrichtungsroutine, um eine genaue Zeigung der Sensoren des Modells und eine einfache GUI-basierte Bedienoberfläche zu gewährleisten. Es kommt auch mit einer Reihe von verschiedenen Modi, wie Area-Scan, Scan-Translation, Edge-Trace und Line-Trace. Diese bieten Flexibilität und beschleunigen Zykluszeitprüfungen und Messungen. Insgesamt ist KLA Microsense 6033T von ADE eine hochpräzise Wafer-Prüf- und Messtechnik, die für schnelle, genaue und zuverlässige Tests und Messungen von Dünnschichtstrukturen auf der Waferoberfläche ausgelegt ist. Dieses System bietet eine große Kombination aus Geschwindigkeit, Genauigkeit und Flexibilität und ist somit eine ideale Wahl für eine Reihe von Wafer-Fertigungsanwendungen.