Gebraucht ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193449 zu verkaufen

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ID: 9193449
Wafergröße: 8"
Wafer metrology system, 8".
ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die im Halbleiter-Test- und Fertigungsprozess verwendet wird. Es kombiniert eine Reihe modernster Inspektions-, Bildgebungs- und Analysesoftware-Pakete, um qualitativ hochwertige Testergebnisse zu liefern. Das System wurde entwickelt, um höchste Zuverlässigkeit und Genauigkeit in der Prüfung und Messung von Wafern zu bieten, und seine Vielseitigkeit ermöglicht es, auf einer Vielzahl von Substraten verwendet werden, einschließlich Silizium-Wafer, Verbundhalbleiter-Wafer und Verbundhalbleiter auf Isolator (SOI) Wafer. ADE UltraScan 9600 verwendet eine Vielzahl von Hardware- und Softwarekomponenten, um möglichst genaue Ergebnisse zu erzielen. Seine Wafertest- und messtechnischen Fähigkeiten umfassen optische kritische Dimension, Partikelcharakterisierung, Spannungsprofil, Overlay, Materialzusammensetzung und optische Profilierungsmessungen. Diese Messungen werden dann analysiert und verwendet, um Leistungsprobleme zu identifizieren und zu lösen, was letztlich zu einer verbesserten Produktleistung und Ertragsoptimierung führen kann. Erweiterte Softwarepakete für Bildgebung und Analyse ermöglichen es Benutzern, ihre Ergebnisse schnell und genau zu analysieren. Das Gerät bietet umfassende Fehlererkennungsfunktionen, einschließlich Laser-Strukturierung und Fehlerinspektion, statische Fehlerbildgebung und dynamische Fehlerbildgebung. Dies ermöglicht die Erkennung einer Reihe von Defekten, einschließlich Mikro- und Nanostrukturen, Partikeln, Mustern, Defekten und prozessinduzierten Formen. Die optischen Wafer-Inspektionsmerkmale ermöglichen eine präzise Visualisierung des gesamten Wafers und fortgeschrittene Abbildungsalgorithmen werden verwendet, um den Anteil beider Teilchengrößen und deren Platzierung über die gesamte Oberfläche des Wafers zu analysieren. KLA ULTRA SCAN 9600 bietet volle Kompatibilität mit branchenüblichen PC-Plattformen, sodass Benutzer ihre Systeme an ihre spezifischen Anforderungen anpassen können. Die Maschine kann auch mit vorhandenen internen Geräten integriert werden, so dass Benutzer ihre vorhandene Infrastruktur für maximale Effizienz und Genauigkeit nutzen können. Die Softwarekomponenten bieten detaillierte Berichtsfunktionen, mit denen Benutzer ihre Testergebnisse speichern und teilen können, und Berichte können zur weiteren Analyse in eine Vielzahl von Systemen von Drittanbietern exportiert werden. Das Tool TENCOR ULTRA SCAN 9600 bietet eine umfassende Lösung für Wafertests und Messtechnik, die eine unübertroffene Genauigkeit und Zuverlässigkeit bietet. Mit seinen vielseitigen Inspektions-, Analyse- und Bildgebungsfunktionen eignet sich dieses Kapital perfekt für jede Produktionslinie, die die Leistung und den Ertrag ihrer Produkte optimieren möchte.
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