Gebraucht ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9193450 zu verkaufen

ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600 ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die den Anforderungen der führenden Halbleiterhersteller von heute gerecht wird. Dieses bahnbrechende System bietet eine leistungsstarke Kombination aus Leistung, Genauigkeit und Wiederholbarkeit, wodurch Waferhersteller die strengsten Anforderungen erfüllen und die Kosten deutlich senken können. ADE UltraScan 9600 besteht aus Komponenten, die zu einer umfassenden Lösung kombiniert werden. Es enthält eine fortgeschrittene Vollfeld-CCD-Farbkamera, eine bildgebende Auswerteeinheit, eine Analyse-Anzeigemaschine, den Ultrascan-bildgebenden Prozessor und eine automatische Fehlerinspektionsmaschine. Die CCD-Kamera bietet dem Tool seine einzigartige Fähigkeit, Bilder von Probenoberflächen mit hoher Geschwindigkeit und Auflösung zu erfassen, während das Imaging Evaluation Asset eine Echtzeitanalyse und einen Vergleich von Oberflächentexturen und Wafertopographie bietet. Das Analyse-Anzeigemodell hilft den Bedienern, durch eine Vielzahl komplexer Bilder zu navigieren, während der Bildverarbeitungsprozessor Bilder analysiert, um selbst die kleinsten Merkmale der Probe genau zu erkennen und zu charakterisieren. Die automatische Defektinspektionsmaschine bietet eine automatische Analyse von Waferoberflächen, um kleine Fehler zu erkennen und zu charakterisieren. KLA ULTRA SCAN 9600 bietet zudem umfangreiche Konnektivitätsoptionen. Es kommuniziert über eine Vielzahl von Remote-Schnittstellen, einschließlich Ethernet, seriellen Port und USB, sowie eine optionale Ethernet-Verbindung, die sicheren Fernzugriff für Fernunterstützung und -steuerung ermöglicht. TENCOR UltraScan 9600 kommt auch mit einer Benutzeroberfläche, die eine einfache Navigation aller Einstellungen und Funktionen ermöglicht. Diese Schnittstellenkapazitäten umfassen die Möglichkeit, den besten Bildgebungsmodus auszuwählen, die Bildauflösung anzupassen und die Farbsteuerung auszuwählen, Ausgabedateien zu verwalten und das Gerät bei Bedarf neu zu kalibrieren. ADE/KLA/TENCOR ULTRA SCAN 9600 ist in der Lage, Wafer mit einer beispiellosen Geschwindigkeit und Genauigkeit zu analysieren. Von der Prozesssteuerung bis zur Fehleranalyse bietet dieses System Lösungen für alle Anforderungen einer schnelllebigen Halbleiterindustrie. Mit seiner überlegenen Leistung, Flexibilität und Erschwinglichkeit ist es eine ideale Wahl für alle Wafertest- und messtechnischen Anwendungen.