Gebraucht ADE / KLA / TENCOR UltraScan 9600 #9222305 zu verkaufen

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ID: 9222305
Wafergröße: 8"
Wafer inspection system, 8" Ultra controller: Series 350 ARM controller 1/2” Floppy – 5 1/4” floppy High resolution probe Non-contact capacitive probe measurement Resolution: 10 um Microns wafer thickness range: 400 to 800 Capable of measuring: Lapped Etched Polished and patterned wafers Measures bow and warp Site and global flatness Thickness with res station System consist of: (2) Cassette input stations (3) Cassette output stations Pre-aligner station Hi-RES station E-PLUS Advanced / Thickness, B/W station Signal effector arm robot 9600 Power supply Non contact P/N type tester for wafer resistivity from 0.1 to 200 ohm-cm ADE 350 Arm controller Auto A probe ASC Controller.
ADE/KLA/TENCOR UltraScan 9600 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnikausrüstung, die auf hohe Leistung und Genauigkeit ausgelegt ist. Das System bietet Funktionen zur Submikron-Fehlererkennung und eine große Waferkapazität. Mit einem großen 27-Zoll-Touchscreen-Monitor bietet das Gerät eine bequeme und einfach zu bedienende Schnittstelle für eine Reihe von Wafer-Test-, Inspektions- und Messtechnik-Anwendungen. ADE UltraScan 9600 verfügt über eine branchenführende Fehleranalysetechnologie, die es Anwendern ermöglicht, Fehler mit Submikron-Genauigkeit zu erkennen und zu charakterisieren. Die AutoDeck AutoTuneTM Kalibrierungstechnologie der Maschine gewährleistet genaue Testergebnisse über mehrere Wafer hinweg. Das Werkzeug ist auch in der Lage, ein Array von Wafern auf einmal zu verarbeiten, mit hohem Durchsatz für höhere Erträge und kürzere Umlaufzeiten. KLA ULTRA SCAN 9600 ist auch mit einer fortschrittlichen Stufensteuerung ausgestattet, die überlegene Stufenstabilität und Vibrationsisolierung bietet, wodurch Geräusche aus dem Modell reduziert und das Übersprechen zwischen Modul und Wafer eliminiert wird. Darüber hinaus bietet das Gerät eine hohe Vibrationsimmunität und HF-Ablehnung, was zu einem höheren Durchsatz und wiederholbaren Testergebnissen führt. Das System ist für eine einfache Integration konzipiert, so dass Benutzer mit einem USB-Anschluss an PCs und andere externe Systeme anschließen können. Die Oszillationsfunktion gewährleistet eine hohe Genauigkeit durch die Einstellung der Wafer-Positionierung in der Wiege. Darüber hinaus enthält das Gerät intelligente Alarme für Frühwarnungen vor Drift oder Beschädigungen, die eine schnelle und genaue Fehlerbehebung ermöglichen. TENCOR ULTRA SCAN 9600 verfügt auch über eine Bibliothek mit fortschrittlichen Algorithmen zur Unterstützung einer Reihe von messtechnischen Anwendungen. Diese Algorithmen umfassen die Charakterisierung von Waferoberflächenrauhigkeit, Dicke, Linearität und Ungleichmäßigkeit. Diese Algorithmen können kleine dimensionale Änderungen erkennen und automatisierte Datenanalysen durchführen, so dass Benutzer schnellere und genauere Entscheidungen treffen können. UltraScan 9600 bietet auch eine breite Palette von Datenanalyse-Tools, einschließlich automatische Variabilitätstrends, Sortierung und statistische Analyse. Diese Werkzeuge helfen bei der Identifizierung defekter Teile in einer Maschine und sorgen für maximale Leistung und Zuverlässigkeit. Insgesamt ist TENCOR UltraScan 9600 ein leistungsfähiges und zuverlässiges Wafer-Test- und Messtechnik-Tool. Es bietet fortschrittliche Technologie für überlegene Fehlererkennung und Asset-Performance, und seine Integrationsfunktionen machen es zu einer idealen Wahl für eine Vielzahl von messtechnischen Anwendungen.
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