Gebraucht AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite #293662145 zu verkaufen

AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die für die schnelle Fehlererkennung und Echtzeit-Oberflächenmesstechnik entwickelt wurde. Dieses System bietet unübertroffene Präzision, Genauigkeit und Geschwindigkeit, sodass Benutzer Fehler in ihren Wafern schnell und zuverlässig erkennen und diagnostizieren können. Nanomap 8018 lite verfügt über eine hochpräzise Xenetech-Arbeitsabtasteinheit, die eine hochauflösende 3D-Karte der Oberfläche des Wafers mit einer Auflösung von bis zu 8 µm liefert. Seine große Durchsatzkapazität und die schnelle Datenerfassungsrate ermöglichen es Benutzern, mehrere Wafer schnell in Minuten zu scannen und zu messen. Die Maschine integriert eine Vielzahl von Testmethoden wie Dunkelfeld, Hellfeld und rückgestreute Elektronenanalyse, um eine umfassende Analyse der Waferdefekte zu gewährleisten. Neben der hochauflösenden 3D-Karte des Wafers bietet das Tool auch umfassende Fehlererkennungsalgorithmen zur Erkennung von Defekten wie kleinen Kratzern, Verschmutzungen, Chip-Bonden und mehr. Der Algorithmus verwendet maschinelle Lernmodelle, um verschiedene Arten von Fehlern zu identifizieren, die visuell schwer zu erkennen sind. Dies hilft, die Genauigkeit der Ergebnisse zu verbessern und die Zeit zu reduzieren, um die Art des Fehlers zu diagnostizieren. Darüber hinaus verfügt AEP TECHNOLOGY Nanomap 8018 lite über einen fortschrittlichen Fehlererkennungsalgorithmus, der kritische und unkritische Fehler identifizieren kann, die auf einen Blick möglicherweise nicht sichtbar sind. Dieser Algorithmus ist in der Lage, zusätzliche Details über jeden erkannten Fehler wie Größe, Ort und Material des Fehlers bereitzustellen. Dies trägt dazu bei, dass alle möglichen Defekte identifiziert und bewertet werden, um die Auswirkungen auf die Gesamtleistung des Wafers zu beurteilen. Die Anlage ist auch für die einfache Integration in andere Anlagen und Prozesse in einem Reinraum wie Probenkühlung, Temperatur- und Druckkontrolle oder automatisierte Reinigungsprozesse konzipiert. So können Anwender in wenigen Minuten schnell Übersichten ihrer Wafer erfassen, Fehler überprüfen und ihre Probleme diagnostizieren und so einen schnelleren und effizienteren Herstellungsprozess gewährleisten. Nanomap 8018 lite ist die perfekte Lösung für Kunden, die Geschwindigkeit, Präzision und Genauigkeit in ihren Wafer-Prüf- und Messtechnik-Prozessen suchen. Mit seiner hochauflösenden 3D-Karte der Oberfläche des Wafers, fortschrittlichen Fehlererkennungsalgorithmen und der einfachen Integration mit anderen Geräten und Prozessen hilft dieses Modell Benutzern, ihre Zeit zur Diagnose von Fehlern zu reduzieren und so ihre Waferqualität und -leistung zu verbessern.