Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9230389 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A Wafer-Prüf- und Messtechnik-Geräte sind mit Anwendungen für Wafer-Level-Tests auf Halbleiterbauelementen konzipiert. Es wurde entwickelt, um sowohl die Licht- als auch die Vakuumprüfung einer Vielzahl unterschiedlicher Silizium-Wafertypen zu unterstützen. HP 4280A ermöglicht ein schnelles Scannen von Wafern, sodass die Anwender schnell und präzise die Qualität eines bestimmten Wafers anzeigen können. Das System verfügt auch über eine Vielzahl von messtechnischen Fähigkeiten, wie visuelle Inspektion, Rasterelektronenmikroskopie (SEM), Atomkraftmikroskopie (AFM), Profilierung und Röntgenbeugung zur detaillierten Messung und Analyse der Mikrostrukturen eines bestimmten Wafers. AGILENT 4280A verfügt über ein Stufenmodul mit 5-Achsen-Steuerung zur präzisen und genauen Ausrichtung des Wafers. Die Stufe ermöglicht das Queren der Waferoberfläche in seitlicher oder vertikaler Richtung in einem vollautomatischen Modus. Die Bühne kann auch drehen, neigen, und Stufe verschieben Sie den Wafer, so dass eine einfache Einstellung der Brennebene für verschiedene Mikroskopobjektive. Die Automatisierung dieser Bewegungen ermöglicht schnelle und präzise Wafer-zu-Wafer-Tests und beseitigt menschliche Fehler beim Testen. HEWLETT-PACKARD 4280A bietet eine vollständige Palette von bildgebenden und messtechnischen Funktionen, so dass Benutzer einen hohen Einblick in die Eigenschaften und Mikrostruktur eines bestimmten Wafers erhalten. Die eingebaute Profilierungseinheit ermöglicht eine detaillierte nanoskalige Analyse des Wafers. Die Maschine verfügt über eine Reihe von hochauflösenden Mikroskopen, die eine detaillierte Inspektion der Waferoberfläche sowie Funktionen wie SEM, AFM und Röntgenbeugung zur weiteren detaillierten Analyse des Wafers ermöglichen. KEYSIGHT 4280A bietet auch eine Reihe von Testfunktionen. Es ist in der Lage, Signale wie Spannung, Strom und Frequenz sowie ein breites Spektrum elektrischer Eigenschaften wie Leckstrom, Schaltparameter und Kanal-zu-Kanal-Gleichmäßigkeit von Geräten zu messen. Dieses Tool verfügt auch über eine eingebaute thermische Zyklusanlage, die eine präzise Temperaturprüfung von Wafern über einen Bereich von Temperaturen ermöglicht. 4280A Wafertest- und Metrologiemodell wurde entwickelt, um schnelle und genaue Wafertest- und Messtechnikfunktionen für erweiterte Waferanwendungen bereitzustellen. Es verfügt über eine 5-Achsen-Steuerung zur präzisen Ausrichtung des Wafers, die eine einheitliche Prüfung ermöglicht. Dieses Gerät ist mit einer kompletten Suite von Inspektions- und Messtechnik-Fähigkeiten ausgestattet, die eine detaillierte nanoskalige Analyse des Wafers ermöglicht. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A bietet auch eine Reihe von Signalprüfmöglichkeiten sowie ein thermisches Zyklussystem zur präzisen Temperaturprüfung von Wafern. Es ist ein leistungsstarkes, präzises Werkzeug für fundierte Waferentwicklung.