Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9375783 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein anspruchsvolles, leistungsstarkes Prüf- und Messtechnikinstrument für die Herstellung von Halbleiterscheiben. Es wurde entwickelt, um die physikalische, elektrische und elektrische Charakterisierung von Siliziumscheiben mit Präzision, Genauigkeit und Geschwindigkeit zu messen. Das System bietet eine ganze Reihe von Messfunktionen wie Dotierung Profilierung, elektrische Charakterisierung, Defekt und parametrische Prüfung, Oberflächenrauhigkeitsanalyse, Oxidationstests, Photolackprüfung, Feuchtigkeitsprüfung und Fehlerinspektion. Das Gerät verfügt über eine schnelle Scan-, Weitbereichs- und Messtechnik-Einheit zur direkten Abbildung von Wafer-Topographie und Oberflächenmerkmalen. Das Metrologie-Toolset bietet detaillierte Maßmessungen für Oxiddicke, Dotierstoffniederschlag und Oberflächentopographie. Das Electrical Test Toolset bietet schnelle und genaue elektrische Leistung und elektrische parametrische Testfunktionen für Halbleiterscheiben. Die Maschine enthält auch ein Microelectronics Parametric Testing Toolset zur Messung der individuellen Chipleistung. HP 4280A Wafer Testing and Metrology Tool wurde entwickelt, um maximale Genauigkeit und Präzision bei der Prüfung und Charakterisierung von Halbleiterscheiben zu bieten. Es verfügt über erweiterte Softwarefunktionen und Benutzeroberflächen, um die Identifizierung, Messung und Simulation komplexer elektrischer und physikalischer Eigenschaften zu erleichtern. Die Anlage ist auch mit einer integrierten Umweltkammer ausgestattet, die eine Temperaturprüfung der Wafereigenschaften ermöglicht. Diese Kammer kann auch verwendet werden, um Testbedingungen in F & E-Laboren oder in Produktionsumgebungen zu simulieren. Das Modell beinhaltet auch eine hochmoderne Videomikroskopie zur Messung von Defekten und Defekten an Wafern. Dies ermöglicht eine genaue Fehlertiefenmessung, ohne die Wafer physisch berühren zu müssen, wodurch das Risiko einer Kontamination oder Beschädigung des Wafers minimiert wird. AGILENT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein vielseitiges und einfach zu bedienendes Mehrzweckgerät für diejenigen, die hochgenaue und detaillierte Wafer-Messtechnik und Testdaten benötigen. Es bietet eine benutzerfreundliche Umgebung, schnellen Durchsatz und umfassende Messtechnik und elektrische parametrische Charakterisierung. Mit seinem breiten Spektrum an Funktionen und Optionen ist es eine gute Wahl für jede Halbleiterherstellungsanlage.