Gebraucht AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E3160-66522 #191012 zu verkaufen

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E3160-66522 Wafer-Prüf- und Messtechnik-System wurde entwickelt, um schnelle, hochgenaue und zuverlässige Messungen von Wafern während der Test- und Produktionsprozesse für Halbleiter und andere Industrien bereitzustellen. Es verfügt über ein integriertes optisches Mikroskop, CCD (charge-coupled device) Scannen und eine einzigartige benutzerfreundliche Benutzeroberfläche, die HP E3160-66522 einfach zu bedienen macht. Das Mikroskop verfügt über eine motorisierte Stufe, die die automatische Positionierung von Wafern für verschiedene Prüfbedingungen erleichtert. Dies ermöglicht maximalen Durchsatz, schnelle Messungen und Datenerfassung. Ein CCD-Scanner ist in das Mikroskop integriert und ermöglicht einen hohen Durchsatz und geringe Geräusche bei der Erfassung von Daten aus einer Vielzahl von Waferoberflächenmerkmalen. Darüber hinaus verfügt der CCD-Scanner über mehrere integrierte Bildgebungsoptionen, die eine überlegene Wiederholbarkeit, Genauigkeit und Auflösung bieten. Die Benutzeroberfläche bietet eine einfache Punkt-und-Klick-Schnittstelle, mit der Bediener die Funktionen und Funktionen des Systems schnell und einfach verstehen können. Darüber hinaus hilft das benutzerfreundliche Display, dem Benutzer schnell die aktuellsten Informationen über die Testparameter und -ergebnisse zur Verfügung zu stellen. AGILENT E3160-66522 arbeitet über zwei wichtige externe Controller - eine CPU-Hauptplatine und eine I/O-Platine. Die CPU-Karte enthält Speicher, Prozessor und externe E/A-Karten. Die CPU der Hauptplatine bietet einen leistungsstarken 32-Bit-Prozessor und kann anspruchsvolle Testalgorithmen ausführen. In der Zwischenzeit ist das I/O-Board so konzipiert, dass es den Anforderungen der High-End-Messtechnik gerecht wird und die Flexibilität bietet, eine Vielzahl von Sensoren und Controllern zu verbinden und zu schneiden. Insgesamt bietet E3160-66522 System schnelle, genaue und zuverlässige Messungen von Wafern in verschiedenen Test- und Produktionsumgebungen und bietet gleichzeitig eine benutzerfreundliche Oberfläche. Es ist eine ideale Lösung für Wafer-Tests und messtechnische Anforderungen.