Gebraucht ALESSI / CASCADE CPS-7089-17 #9293187 zu verkaufen

ALESSI / CASCADE CPS-7089-17
ID: 9293187
Four point resistivity probe and platform station.
ALESSI/CASCADE CPS-7089-17 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik auf Basis einer kombinierten optischen und Wafer-Mapping-Plattform. Seine optomechanische Konstruktion ermöglicht eine hochpräzise Messung für eine Vielzahl von Wafertest- und messtechnischen Anwendungen. Seine erweiterten Funktionen, wie automatische Wafer-Zentrierung, unterstützen die automatisierte Prüfung von heutigen Sub-Mikron-Geräten. Das System umfasst verschiedene optische Komponenten, darunter Mikroskopobjektive, Sensoren und Linsen. Alle optischen Elemente sind für eine optimale Passform ausgelegt und ermöglichen den Fortschritt der bildgebenden Technologie, die für aktuelle Wafertest- und messtechnische Anwendungen erforderlich ist. Das optomechanische Design von ALESSI CPS-7089-17 ermöglicht eine präzise Ausrichtung über das gesamte Sichtfeld hinweg und gewährleistet höchste Genauigkeit der Messungen von Test und Messtechnik. CASCADE CPS-7089-17 ist mit einer motorisierten Bühne ausgestattet, die eine einfache und präzise Positionierung von Wafern ermöglicht. Dies ist vorteilhaft für Tests mit hohem Durchsatz und messtechnische Vorgänge. Die motorisierte Stufe ermöglicht auch die Möglichkeit, Wafer jeder Größe zu scannen. Um sicherzustellen, dass alle Messungen über das gesamte Sichtfeld hinweg genau sind, enthält CPS-7089-17 eine Vielzahl von Funktionen wie Autofokus, automatische Belichtung und erweiterte Algorithmen zur Mustererkennung. Die automatische Fokussierungsfunktion verwendet eine automatische Fokussierungsfunktion, die es Benutzern ermöglicht, schnell den gewünschten Fokuspunkt zu erhalten, wodurch die manuelle Anpassung entfällt. Automatisierte Belichtung ermöglicht präzise Messungen unabhängig vom Gerätedesign und bietet einen effizienteren Testprozess. ALESSI/CASCADE CPS-7089-17 verfügt auch über eine von ALESSI entwickelte SPCi-Software, die Wafer-Test- und messtechnische Datenanalysefunktionen bietet. Dazu gehören hochpräzise Leistungsmessgrößen wie Über-/Unterschießen und Gesamtflächenmessungen. Die Software ermöglicht eine einfache Einrichtung und Kalibrierung der Einheit und ist auch in der Lage, erweiterte statistische Analyse von Wafer-Test und Messtechnik-Daten. ALESSI CPS-7089-17 führt ein breites Spektrum an Wafertest- und messtechnischen Aufgaben durch, darunter Stempel-, Einzel- und Wafer-Pegelmessungen. Diese Maschine ist eine effektive Lösung für automatisierte Tests und hohe Genauigkeit messtechnische Anforderungen für integrierte Schaltungsgeräte.
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