Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #116929 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für Halbleiterherstellungsanwendungen. Das System bietet eine umfassende Suite fortschrittlicher Messtechnik-Tools, mit denen Ingenieure präzise, hochauflösende 3D-Scans von Wafer-Proben durchführen können. Das Gerät wurde entwickelt, um kleinste strukturelle Details auf Wafern zu analysieren und kritische strukturelle Aspekte wie Schichtdicke und Oberflächenprofil genau zu messen. Damit ist AMAT NANOSEM 3D ein unschätzbares Werkzeug für Halbleiter- und Elektronikprozessingenieure. Die Maschine ist mit einem hochauflösenden optischen Mikroskop, Spektralphotometer und Röntgendiffraktometer ausgestattet, mit dem Ingenieure winzige Unterschiede in Waferstrukturen genau messen und erkennen können. Damit kann die Zusammensetzung, Dicke und geometrische Präzision von Waferschichten bestimmt werden. Es bietet auch Informationen über Nachbearbeitungen und chemische Behandlungen, so dass Ingenieure den Konstruktionsprozess ändern können, um Ertrag und Leistung zu optimieren. Das Werkzeug ist in der Lage, Wafer schnell zu scannen, und seine hochpräzisen bildgebenden Werkzeuge bieten eine ausgezeichnete Auflösung, um genaue Messungen winziger Merkmale zu ermöglichen. Das Asset ermöglicht es Ingenieuren, mehrere Beispielparameter schnell auf einmal zu analysieren, ohne komplexe messtechnische Vorgänge durchführen zu müssen. Auf diese Weise können Ingenieure Wafer-Designs schnell entwickeln und bewerten, sodass sie potenzielle Probleme erkennen und beheben können, bevor sie zu kostspieligen Problemen werden. Angewandte Materialien NANOSEM 3D ist ein leistungsfähiges Werkzeug für Halbleiterherstellungsprozesse, da es Ingenieuren die notwendigen Analysewerkzeuge zur Verfügung stellt, um Genauigkeit und Qualität zu gewährleisten. Mit seinen fortschrittlichen Messtechnik-Tools kann das Modell schnell Wafer-Proben scannen und messen sowie kritische Fertigungskanal- und Prozessverformungen erkennen. Dies macht es zu einem unschätzbaren Vorteil für jeden Halbleiterhersteller und stellt sicher, dass die Produkte den erforderlichen Qualitätsstandards entsprechen.