Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9293620 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die eine Kombination aus 2D- und 3D-Technologien verwendet, um detaillierte Fehlerbilder zu erzeugen. Es verfügt über einen Hochleistungselektronenstrahl, der verwendet werden kann, um ultrahochauflösende 2D-Bilder mit Dicken bis zu einem einzigen Nanometer zu erstellen. Diese beispiellose Auflösung ermöglicht die schnellere Identifizierung und anschließende Analyse von Wafer-Level-Defekten als je zuvor. AMAT NANOSEM 3D-System verwendet hochauflösende digitale Signalerfassung (DSC), um winzige Änderungen im elektrischen Strom von Transistoren und Geräten auf mikroskopischer Ebene zu erfassen. Dadurch kann das Gerät mögliche Fehler erkennen, die in einem herkömmlichen Bild, das von optischen Mikroskopen erzeugt wurde, unbemerkt geblieben wären. Neben DSC integriert APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D-Maschine auch die MRC (Metrology Raster Capture) Technologie, um ein 3D-Bild zu erzeugen, um die Analyse subtiler Veränderungen in der Struktur der dielektrischen Schichten auf der Oberfläche des Substrats zu erleichtern. Die MRC-Technologie verwendet leistungsstarke Laserstrahlen, um ein Muster auf die Oberfläche zu „schreiben“ und bietet einen treuhänderischen Marker, um verschiedene Materialien und Defekte hervorzuheben. Mit beiden 3D-Bildgebungstechnologien kann das NANOSEM 3D-Tool Echtzeitmessungen der Produktvariabilität mit ultrahoher Auflösung überwachen und dabei anormale Muster auf Nanometerskalenebene erkennen. Dies ermöglicht eine detaillierte Analyse der Produkteinheitlichkeit mit schneller und effektiver Erkennung subtiler Defekte. Das Asset bietet auch Visualisierungen mit der Fähigkeit, betw een 2D- und 3D-Ansichten „umzuschalten“, um mögliche physische Fehler zu identifizieren. AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D-Modell ist entworfen, um einfach zu bedienen, mit einer benutzerfreundlichen Benutzeroberfläche. Die Geräte können je nach Anwenderpräferenzen, Treibern und Nachbearbeitung für die vollständige Steuerung und Automatisierung der Datenanalyse angepasst werden. Es enthält auch eine eingebettete Skriptsprache, mit der Benutzer benutzerdefinierte Skripte für die Datenerfassung, -analyse und -freigabe erstellen können. Insgesamt ist das AMAT NANOSEM 3D-System eine fortschrittliche Wafer-Test- und Messtechnik-Lösung, die ultrapräzise, hochauflösende Bildgebung mit leistungsstarken Messtechnik und Fehlererkennungswerkzeugen kombiniert. Die Kombination aus leistungsstarker 2D- und 3D-Bildgebungstechnologie, Echtzeitmessungen und automatisierter Analyse schaffen eine leistungsstarke Einheit, die Anwendern beispiellose Bildauflösung und Fehlererkennungsfunktionen bietet.