Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D #9353975 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochentwickeltes Werkzeug zur Charakterisierung, Prozesssteuerung und erweiterten Fehleranalyse von Halbleiterbauelementen, Nanomaterialien und Materialien mit nanoskaligen Eigenschaften. Das System kombiniert innovative Hardware- und Softwarefunktionen, um die ultrahochauflösende 3D-Mikroskopie zu ermöglichen. Die Hardware beinhaltet ein ultrahochauflösendes FE-SEM-Rasterelektronenmikroskop mit einem optionalen Monochroma-Feature, einen Hochvakuum-Sekundärelektronen-Detektor (SE), eine säulenweise einziehbare Abbildungsoptik, einen assoziierten Vakuumtechnologien (AVT T T -) Gasschrank. Diese Hardwarekombination ermöglicht eine hochauflösende Abbildung von Geräten mit nanoskaligen Auflösungen. Die AMAT NANOSEM 3D-Einheit kann eine volle Auflösung von 1 Nanometer oder 0,0001mm erreichen und ermöglicht eine extrem detaillierte Charakterisierung von Materialien und Strukturen. Die Maschine umfasst auch weitere nützliche Software und Systeme für eine Vielzahl von analytischen und bildgebenden Aufgaben. Ein integriertes Spektroskopiewerkzeug ermöglicht die energiedispersive Spektroskopie (EDS), mit der die Zusammensetzung der Materialien zum Nanoskala analysiert werden kann. Außerdem stehen automatisierte Filter- und Kontrastverbesserungstechnologien zur Verfügung, mit denen Benutzer große Datensätze schnell und einfach analysieren können. Das Asset umfasst auch zahlreiche QC- und Prozesskontrollfunktionen. Es verfügt über integrierte Fehlererkennungsfunktionen, die Benutzern die Möglichkeit bieten, Fehler auf dem Nanoskala zu erkennen und zu isolieren. Ein integriertes Stufensteuerungsmodell ermöglicht eine präzise Bewegung und Positionierung der Probe mit manuellen und automatisierten Funktionen. Schließlich bietet APPLIED MATERIALS NANOSEM 3D Benutzern eine leistungsstarke Suite von Fehleranalyse-Tools. Die automatisierte Software ermöglicht die Analyse der Fehlerisolierung, Hotspot-Analyse, elektrische Fehleranalyse und eine Reihe anderer Aufgaben zur Fehleranalyse. Abschließend ist NANOSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment ein fortschrittliches, integriertes System zur Charakterisierung, Steuerung und Analyse von Materialien auf der Nanoskala. Dieses Gerät ist hochpräzise und enthält eine Reihe von Hardware- und Softwarefunktionen für die Analyse, Messtechnik und Fehleranalyse.