Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #9225946 zu verkaufen

ID: 9225946
Weinlese: 2004
Scanning Electron Microscope (SEM) Process: Mask critical dimension (CD) measurement Main module Operation panel Network panel Pump UPS 2004 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D ist eine fortschrittliche Wafertest- und Messtechnik-Ausrüstung, die überlegene Leistung für ultrahochauflösende 3D-Bildgebung und -analyse bietet. Das System bietet beispiellose Präzision und Genauigkeit, so dass Benutzer eine Vielzahl von Messungen und Aufgaben an empfindlichen Wafermaterialien durchführen können. AMAT Reticle NanoSEM 3D verwendet ein Rasterelektronenmikroskop (SEM), um Bildgebung und Messungen mit Nanometerauflösung durchzuführen. Es verfügt über eine hochauflösende Low-kV-Pistole für präzisere Bildgebung und verbesserte Aufladung in Materialien und Oberflächen. Es hat auch eine Musterstufe motorisiert in X, Y, und Z-Achsen, so dass es vielseitig und geeignet für eine Vielzahl von Anforderungen. ANGEWANDTE MATERIALIEN Reticle NanoSEM 3D enthält eine Vielzahl von Funktionen, um Präzision und Genauigkeit in der Bildgebung zu gewährleisten. Dazu gehören eine breite Palette von Vergrößerungsoptionen (bis zu 50.000x) für 3D-Bildgebung und -Scanning sowie die Möglichkeit, hochauflösende Bilder mit einem Sichtfeld von Mikrometern bis zu Dutzenden Mikrometern zu erzeugen. Es ist auch mit einer Elektronenstrahl-Fokussiereinheit und einer gasgefüllten Ionensäule ausgestattet, die eine Vielzahl von Energie- und Tiefenmöglichkeiten ermöglichen. Neben seinen bildgebenden Funktionen ist Reticle NanoSEM 3D auch mit mehreren messtechnischen Werkzeugen ausgestattet, um seine Funktionalität zu verbessern. Dazu gehören eine Vielzahl von Detektoren, wie ein Sekundärelektronendetektor, Rückstreuelektronendetektor und energiedispersiver Röntgendetektor, sowie eine automatisierte optische Ausrichtmaschine. AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D verfügt auch über eine intuitive Benutzeroberfläche und Software-Suite. Die Software bietet erweiterte Funktionen für Datenanalyse, Automatisierung, Visualisierung und Zusammenarbeit, sodass Benutzer die Funktionen des Tools vollständig maximieren und nutzen können. Darüber hinaus bietet die Software Reporting-Funktionen, um Datengenauigkeit und Vollständigkeit für komplexe Datensätze und Muster zu gewährleisten. AMAT Reticle NanoSEM 3D ist eine fortschrittliche Komponente für Wafertests und Messtechnik, die unglaubliche bildgebende und messtechnische Funktionen mit modernsten Funktionen und intuitiven Softwarelösungen bietet. Mit seiner überlegenen Genauigkeit und Leistung ist APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D das perfekte Modell, um präzise Ergebnisse in den heikelsten Aufgaben und Materialien zu erzielen.
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