Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D #9269031 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle NanoSEM 3D ist die fortschrittlichste Wafer-Prüf- und Messtechnik für die Halbleiterforschung und -entwicklung. Es bietet beispiellose 3D-Ansichten der Strukturen auf Halbleiterscheiben. Das System ermöglicht es Designern und Wissenschaftlern, Chipstrukturen schnell und genau zu analysieren, um elektrische Ausfallmodi zu verstehen und das Design zu optimieren. AMAT Reticle NanoSEM 3D verfügt über eine große Kammer mit einer Hochleistungs-Elektronenkanone, digitaler Signalverarbeitungselektronik, Bewegungsreglern und anderen Komponenten zur Maximierung der Bildgebung und Analyse kritischer Merkmale. Die Kammer ist vakuumversiegelt, um monochromatisches Abtasten von Wafern und Vollfeldbildern zu ermöglichen. Es verfügt über eine integrierte NanoSIMS-Bildgebungseinheit, die mit einer integrierten NanoBioCM-Maschine arbeitet, um die chemischen Parameter der Strukturen zu messen. Zum Werkzeug gehört auch ein Reticle-Scanner, der bis zu 28 Reticles gleichzeitig inspizieren kann. Um eine genaue und zuverlässige Bildgebung zu gewährleisten, enthält die Anlage einen zum Patent angemeldeten 3D-Heftalgorithmus zur Erzeugung hochgenauer 3D-Bilder. Es verwendet zwei Elektronenstrahlspalten, um die feinen Details von Strukturen zu erfassen, während die fortschrittliche Bildgebungssoftware eine Hochgeschwindigkeitsanalyse und Bildkorrektur bietet. Dadurch wird sichergestellt, dass die Bilder genau sind und die Daten zuverlässig verwendet werden können. ANGEWANDTE MATERIALIEN Reticle NanoSEM 3D ist das ideale Werkzeug für die elektrische Fehleranalyse und Wafermesstechnik. Es bietet Forschern hochwertige 3D-Bilder mit Sub-Nanometer-Genauigkeit, die zur Mustererkennung, Gerätecharakterisierung und Prozessüberwachung verwendet werden können. Das Modell ist einfach zu bedienen und kann in bestehende Wafer-Forschungs- und Entwicklungsprozesse integriert werden. Es ist mit einer Fernüberwachungseinrichtung ausgestattet, mit der Benutzer seine Leistung von jedem Ort aus überwachen können. Diese Funktion stellt sicher, dass das Gerät immer bei Höchstleistung funktioniert und bei Bedarf verfügbar ist. Reticle NanoSEM 3D ist das ultimative Wafer-Prüf- und Messtechniksystem für die Halbleiterforschung und -entwicklung. Seine Suite an fortschrittlichen Funktionen, robuste Leistung und Wirtschaftlichkeit machen es zur idealen Wahl für Forscher und Designer, die höchste Qualität und Zuverlässigkeit von ihrer Arbeit verlangen.