Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle SEM #9249417 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung, die speziell für die Halbleiterherstellung und -forschung entwickelt wurde. AMAT Reticle SEM ist ein Rasterelektronenmikroskop, das kritische Ebenen von Waferoberflächendetails und -bedingungen genau messen und analysieren kann. Dieses SEM kann physikalische Merkmale und Defekte mit extrem hoher Präzision und Genauigkeit erkennen und messen. Das SEM ermöglicht eine statische und dynamische Analyse von Oberflächen, die eine Messung und Analyse von Veränderungen im Zusammenhang mit Umgebungsumgebung und anderen Variablen ermöglicht. ANGEWANDTE MATERIALIEN Reticle SEM ermöglicht eine breite Palette von Waferoberflächendefektprüfung, Charakterisierung und Analyse. Es kann Daten erfassen, aufzeichnen und verarbeiten, die sich auf Oberflächenmorphologien, kritische Dimensionen, elektrische Eigenschaften, chemische Zusammensetzung und mehr beziehen. Dieses SEM ist speziell für Wafer- und andere Anwendungen der Halbleitermesstechnik konzipiert. Das System verfügt über eine leistungsstarke, optimierte Elektronenoptik-Einheit, die eine hervorragende Bildgebung mit hohem Kontrast und verbesserter Auflösung bietet. Darüber hinaus verfügt es über eine integrierte automatisierte XYZ-Stufenpositionierungsmaschine, die eine automatisierte Waferdatenerfassung und -analyse innerhalb kurzer Zeit ermöglicht. Das SEM verwendet eine offene Architektur, die die Flexibilität für Werkzeuganpassungen bietet, um mehreren Technologien und Prozessanforderungen gerecht zu werden. Dieser flexible und modulare Aufbau bietet den Anwendern eine ideale Umgebung, um ihre eigenen Testaufbauten und Datenerfassungspläne zu konfigurieren. Reticle SEM ist auch an die Bedürfnisse des Endbenutzers anpassbar, mit fortschrittlichen Instrumenten und Analysefunktionen, die leicht für größere Messungen, verbesserte Bildgebung und erhöhte Genauigkeit angepasst werden können. Darüber hinaus ist AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM für die Automatisierung konzipiert, so dass Benutzer vorbestimmte Analysepläne erstellen können, die ausgelöst werden können, um unbeaufsichtigte Tests durchzuführen. AMAT Reticle SEM ist auf einen Blick ein leistungsstarkes und vielseitiges Werkzeug für die Halbleiterscheiben- und Retikelmesstechnik. Es bietet überlegene hochauflösende Bildgebung und hochpräzise Messung mit ausgezeichnetem Durchsatz und Wiederholbarkeit für eine breite Palette von Anwendungen. Diese anspruchsvolle Maschine ermöglicht es dem Bediener, Daten einfach zu erfassen, aufzuzeichnen und zu verarbeiten. Die flexible Architektur und die integrierte XYZ-Positionierung bieten den Betreibern zudem ein Maß an Anpassbarkeit und Automatisierung, das sie für viele Anwendungen ideal macht.