Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein hochentwickeltes Werkzeug für Wafertests und Messtechnik. Es wird von Forschungslabors, Halbleiterherstellern und Prozessingenieuren verwendet, um die dreidimensionalen Merkmale von Halbleiterwafern, Festkörperspeicherchips und anderen Halbleiterbauelementen genau zu messen und zu charakterisieren. AMAT VeraSEM 3D System besteht aus einer Reihe von Komponenten, darunter die MetaSEM G4 hochauflösende SEM (Scanning Electron Microscope) kryokühlte Probenansicht, die MetaSEM Magnetron Sputtering Station und das High Resolution Optical Microscope. Das SEM nutzt die Elektronenstrahltechnologie, um die genauen Merkmale des zu untersuchenden Wafers oder Geräts zu identifizieren. Die hochauflösende SEM-kryokühlte Probenkammer MetaSEM G4 bietet eine präzise Steuerung der Probentemperatur und der Betriebsbedingungen. Mit der Magnetron-Sputterstation werden dünne Filme vor der Bildgebung auf die Wafer aufgebracht. Das hochauflösende optische Mikroskop ermöglicht es dem Anwender, die Topographie und Oberflächenrauhigkeit der Proben genau zu überprüfen und zu messen. Neben diesen Komponenten umfasst APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D auch eine Reihe fortschrittlicher Software- und Hardwaresysteme, wie die Stereology Analysis Unit, die Automated Sample Preparation Machine und die Pattern Recognition Software. Das Stereologieanalyse-Tool wird verwendet, um automatisch die KEs des Wafers zu identifizieren, z. B. die Größe, Form und Orientierung von KEs auf dem Wafer. Die automatische Probenvorbereitung ermöglicht es dem Benutzer, die Proben schnell und genau für die Bildgebung vorzubereiten. Die Mustererkennungssoftware dient zur Identifizierung von Mustern, wie der Strukturierung von Dioden oder Transistoren auf den Wafern. VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Model ist eine unschätzbare Ressource für Forschungslabore, Halbleiterhersteller und Prozessingenieure. Es bietet schnelle, genaue und zuverlässige Messungen und Charakterisierungen von Wafern und anderen Halbleiterbauelementen. Dank fortschrittlicher Komponenten und Software ist AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D in der Lage, die genauen Merkmale des Wafers zu identifizieren und Proben schnell für die Bildgebung vorzubereiten. Dieses Gerät ist ein wesentliches Werkzeug für die Herstellung und Inspektion von Halbleiterbauelementen.