Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668733 zu verkaufen

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AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D
Verkauft
ID: 293668733
Wafergröße: 12"
Weinlese: 2002
Metrology system, 12" 2002 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik-Ausrüstung für den Einsatz in der Halbleitertechnik und -fertigung. Seine Fähigkeiten umfassen erweiterte Messtechnik, Wafer-Karten, Nachbearbeitung von 3D-Topographie, Qualifizierung von Gitterwafern, Maskentests und rechtwinklig geprüfte Oberflächen. Das Tool ist mit mehreren Komponenten ausgestattet, darunter eine mehrkanalige Elektronenstrahlquelle, eine Bedienkonsole und eine Benutzeroberfläche. Die Elektronenstrahlquelle liefert kontrollierte Elektronenimpulse an die Probenoberfläche, die eine hochauflösende Bild- und Topographiemessung ermöglichen. Mit Hilfe einer Kombination aus Beschleunigung, Verzögerung und Strahlablenkung durch die Elektronensäule kann AMAT VeraSEM 3D die Kontur kleiner KEs, nicht planarer KEs und fein detaillierter Oberflächenstrukturen messen und abbilden. Bei der Inspektion wird der Elektronenstrahl abgetastet und die in der Interaktion erzeugten Sekundärelektronen werden verwendet, um ein Bild oder Daten für die 3D-Oberflächenkarte zu sammeln. Der Schaltschrank bietet die Bordbild- und Datenverarbeitungsfähigkeit für gesammelte Daten aus APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D. Durch dieses System werden verschiedene Parameter und Funktionen gesteuert und überwacht. Es kann verwendet werden, um die Stromdichte der Elektronensäule, die Länge der Beschleunigungs- und Verzögerungsphasen der abgetasteten Elektronen und andere Parameter einzustellen. VeraSEM 3D Benutzeroberfläche ist für einfache Bedienung und Datenverwaltung konzipiert. Es kann verwendet werden, um das Gerät zu überwachen und die gesammelten Bilder und 3D-Oberflächenkarten zu visualisieren. Weiterhin dient die Benutzeroberfläche zur Definition der Scanbereiche, Betrachtungsmodi und der 3D-Topographiemesseinstellungen. Es bietet auch eine Aufzeichnungsfunktion zur Speicherung der Testdaten sowie eine Anpassung der Benutzeroberfläche. Mit seinen fortschrittlichen messtechnischen Fähigkeiten ist AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D ein idealer Kandidat für die entstehenden Anwendungen von Halbleitertests. Durch die Verwendung einer Kombination aus hochauflösender Bildgebung und Datenverarbeitung kann es kleine und nicht planare Merkmale auf einer Waferoberfläche genau messen und abbilden. Seine benutzerfreundliche Oberfläche macht die Maschine einfach zu bedienen und ermöglicht eine Anpassung an die Anforderungen einer bestimmten Anwendung.
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