Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9145247 zu verkaufen

AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D
ID: 9145247
Wafergröße: 8"
Weinlese: 2003
3D SEM systems, 8" 2003 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein fortschrittliches System zur Messung von Dünnschichten und integrierten Schaltungsprozessen mit echten 3D-Bildern. Diese Einheit kombiniert autonome 3D-Mess- und Analysetechnologie mit Elektronenmikroskopie, um der Halbleiter- und drahtlosen Industrie ein neues Maß an Datengenauigkeit und -genauigkeit zu verleihen. AMAT VeraSEM 3D misst mit einem fortschrittlichen Elektronenmikroskop extrem dünne Filme, Defekte und andere Merkmale in integrierten Schaltungen. Dieses Verfahren liefert eine dreidimensionale Abbildung des Materials, um gekippte Merkmalswände und Bewegungen aufzunehmen, was weniger Messfehler und genauere Ergebnisse bedeutet. Die Genauigkeit der Maschine wird auch durch direkte Abbildung einzelner Merkmale und Strukturen verbessert, wodurch der Bedarf an aufwendiger Kalibrierung und Referenzpunkten reduziert wird. Die Vielseitigkeit von APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Tool kann in einer Vielzahl von Anwendungen wie Fehleranalyse, Messtechnik und Prozesssteuerung eingesetzt werden. Sein innovatives Design macht es in der Lage, eine Vielzahl von Materialtypen zu messen, einschließlich der in modernen FTIR-, SPM- und SEM-Systemen. Neben der Messung von Dünnschichten und integrierten Schaltungen verfügt VeraSEM 3D auch über umfangreiche Rückverfolgbarkeitsmöglichkeiten, um genaue Ergebnisse und Messungen im Laufe der Zeit zu gewährleisten. Dies wird durch ein integriertes Konfigurationsbestandteil bereitgestellt, das die Erstellung unterschiedlicher Rückverfolgbarkeitsmetadaten direkt aus dem Bildgebungsmodell ermöglicht. AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Equipment ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Messung und Analyse der Struktur von dünnen Schichten und integrierten Schaltungen. Es kombiniert autonome 3D-Mess- und Analysetechnologie mit Elektronenmikroskopie, um qualitativ hochwertige 3D-Bilder mit Präzision und Genauigkeit zu erzeugen. Es ist in der Lage, eine breite Palette von Materialien zu messen, sowie die Rückverfolgbarkeit Fähigkeiten, um langfristige Datengenauigkeit und Konsistenz zu gewährleisten. Dies macht es zu einem leistungsstarken Werkzeug für Fehleranalyse, Messtechnik und Prozesssteuerung.
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