Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9293429 zu verkaufen

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D ist eine neue Generation von Wafertest- und messtechnischen Lösungen von AMAT. Es verfügt über eine fortschrittliche Gerätearchitektur und modernste Sensortechnologie und ist damit eine der leistungsstärksten Wafer-Test- und Messtechniklösungen, die es heute gibt. AMAT VeraSEM 3D nutzt eine Multi-Sensor-Plattform, die drei Komponentensensoren - einen Mapping-Laser, einen Oberflächenanalysator und eine Bildaufnahmekamera - mit einer fortschrittlichen Systemarchitektur integriert. Der Mapping-Laser verwendet einen schnellen, zerstörungsfreien Lichtstrahl, um die Oberfläche des Wafers genau abzubilden und Daten für die Oberflächenbildgebung und -analyse bereitzustellen. Der Oberflächenanalysator liefert genaue Oberflächencharakterisierungsdaten, einschließlich Oberflächentopologie, Profil- und Rauheitseigenschaften. Schließlich erfasst die Bildkamera detaillierte Oberflächenbilder des Wafers, um unschätzbare Daten über Mikrostrukturfehler und andere Variationen zu liefern. ANGEWANDTE MATERIALIEN VeraSEM 3D nutzt ANGEWANDTE MATERIALIEN jahrzehntelange Erfahrung in der Wafer-Prüfung und Messtechnik, um Kunden ein unvergleichliches Maß an Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten. Es hat die Fähigkeit, eine 3D-Oberflächenauflösung besser als 5 nm zu erreichen, mit einer minimalen Merkmalsgröße von nur 40 nm. Seine fortschrittlichen Algorithmen sind in der Lage, Funktionen mit einer Größenvariation von bis zu 0,1 Mikron zu erkennen und zu messen. Das Gerät ist außerdem mit proprietären Bildanalyse-Algorithmen zur Fehlererkennung und -klassifizierung ausgestattet, die den Betreibern eine schnelle und zuverlässige Möglichkeit bieten, Prozessvariationen zu erkennen und zu steuern. VeraSEM 3D wurde entwickelt, um die anspruchsvollen Anforderungen der Halbleiter- und verwandten Industrien zu erfüllen. Seine Hochgeschwindigkeits-Datenerfassungs- und -verarbeitungsfunktionen können Bedienern helfen, Fehler schnell und genau zu identifizieren und bei Bedarf Prozesskorrekturen einzuleiten. Die Maschine bietet auch eine dedizierte benutzerfreundliche grafische Benutzeroberfläche, die Wafer Inspektion und Messtechnik Aufgaben vereinfacht und ermöglicht eine vollständige Anpassung. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D eine leistungsstarke und vielseitige Wafertest- und Metrologie-Lösung, die modernste Sensortechnologie, Werkzeugarchitektur und proprietäre Algorithmen kombiniert, um überlegene Genauigkeit und Wiederholbarkeit zu bieten. Es erleichtert den Bedienern die Analyse von Mikrostrukturfehlern und anderen Variationen in Wafern, so dass sie die Prozesskontrolle und die Ertragssteigerung schnell optimieren können.