Gebraucht AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #9392146 zu verkaufen

ID: 9392146
Weinlese: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) Robot Controller Monitor Parts missing 2001 vintage.
AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D ist eine leistungsstarke Wafer-Prüf- und Messtechnik, die es Anwendern ermöglicht, elektrische, physikalische und materielle Eigenschaften von Wafern und Trägern schnell und präzise zu messen. Das System verfügt über ein hochdurchsatzreiches, fortschrittliches Design, das die Effizienz sowohl im manuellen als auch im automatisierten Betrieb maximiert. Die integrierte Automatisierungssoftware und Steuereinheit bieten erweiterte Einstellungen zur automatischen Steuerung von Testparametern und -analysen. AMAT VeraSEM 3D verfügt über eine vakuumbasierte Technologie zur berührungslosen Oberflächenabtastung, die eine hochgenaue Prüfung von mikroelektronischen Geräten in verschiedenen fortgeschrittenen Anwendungen ermöglicht. Die hochauflösenden Bildgebungs- und Analysefunktionen der Maschine ermöglichen es Benutzern, die Oberfläche eines Wafers genau auszuwerten, was zu Daten führt, die frei von Anomalien sind. Dies ermöglicht eine verbesserte Prozesssteuerung und reduziert Prozessvariationen. Darüber hinaus bietet die Ultra-Hochfrequenz-Antriebstechnologie eine maximale Scanauflösung von 500 nm und ermöglicht eine präzise quantitative Analyse der Oberflächeneigenschaften. Darüber hinaus ist APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D mit einer automatisierten optischen Messtechnik ausgestattet, die es Anwendern ermöglicht, hochauflösende Bilder von Waferoberflächen zu erfassen. Diese Funktion bietet eine umfassende visuelle Bewertung von Merkmalen und Defekten und bietet gleichzeitig eine Echtzeitansicht der Oberfläche. Dieses Tool verfügt auch über eine benutzerfreundliche Oberfläche, die eine einfache Bedienung ermöglicht und maximale Effizienz und Komfort gewährleistet. Darüber hinaus bietet VeraSEM 3D eine Vielzahl fortschrittlicher Datenanalysefunktionen, darunter 3D-Oberflächencharakterisierung, Extraktion von Parametern mit großer Reichweite und Overlay-Messtechnik. Diese Funktion ermöglicht es Anwendern, schnell und einfach die Gesamteigenschaften einer Waferoberfläche zu erkunden, sowie ihr Leistungsniveau zu beurteilen und mögliche Probleme zu erkennen. Insgesamt ist AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D eine leistungsstarke und hochgenaue Wafer-Test- und Messtechnik, die es Anwendern ermöglicht, elektrische, physikalische und materielle Eigenschaften von Wafern und Trägern schnell und präzise zu messen. Es verfügt über eine integrierte Automatisierungssoftware, eine benutzerfreundliche Oberfläche und eine automatisierte optische Messtechnik-Funktion, so dass es eine gute Wahl für jede Anwendung.
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