Gebraucht ASML YieldStar S100 #293621217 zu verkaufen

ASML YieldStar S100 ist eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Erkennung von Defekten und zur Messung kritischer Abmessungen entwickelt wurde. Dieses automatisierte optische Inspektionssystem ist in der Lage, Muster zu erkennen und mehrere Arten von Substraten zu handhaben. Es verfügt über eine hochpräzise 3-Achsen-Linearmotorstufe und eine fortschrittliche Hochleistungs-Bildverarbeitungseinheit. ASML YIELDSTAR S-100 ist in der Lage, Defekte bis zu 50nm auf Wafern von bis zu 200mm zu erkennen. Es hat auch die Fähigkeit, mehrere Substrattypen zu testen und eine Vielzahl von Merkmalsgrößen zu messen, einschließlich Linienbreiten und Abstand, Grabentiefen und Vorsprünge. Die Maschine ist mit einer Vielzahl fortschrittlicher Bildgebungs- und Mustererkennungstechnologien ausgestattet, wie Spektroskopie, UV-Beleuchtung, Konturerkennung, Bildkorrelation und Partikelanalyse. YieldStar S100 ist hochautomatisiert und ermöglicht die Chargenverarbeitung von Waferproben in einem einzigen Testlauf. Es verfügt über eine Vielzahl von optischen Messgeräten, wie eine stabile Langstreckenkamera und einen Autofokusmechanismus mit integriertem Mustererkennungswerkzeug. Diese Anlage wurde entwickelt, um Fehler schnell und präzise zu erkennen, was zu höheren Renditen und Produktionseffizienz führt. In Bezug auf die Datenanalyse bietet YIELDSTAR S-100 eine Reihe leistungsstarker Funktionen. Es ist mit einer eingebetteten Software-Bibliothek ausgestattet, die in der Lage ist, Fehlerbilder zu analysieren und das Auftreten und die Art von Fehlern zu erkennen. Es verfügt auch über eine fortschrittliche Mustererkennungstechnologie, die die Ursache eines Fehlers identifizieren kann. Dieses leistungsstarke Modell kann auch Trends in der Musterentwicklung erkennen und zur Verbesserung der Qualitätskontrolle und Prozessoptimierung eingesetzt werden. Insgesamt ist ASML YieldStar S100 eine fortschrittliche Wafer-Prüf- und Messtechnik, die in der Lage ist, Fehler zu erkennen und kritische Abmessungen schnell und genau zu messen. Es ist automatisiert und bietet leistungsstarke Datenanalyse-Tools, so dass es eine ideale Wahl für Halbleiterhersteller, die nach höheren Erträgen und effizienterer Produktion suchen.