Gebraucht ASML YieldStar S100 #293625705 zu verkaufen

ASML YieldStar S100 ist eine Wafer-Prüf- und Messtechnik, die zur Charakterisierung und Analyse von Halbleiterbauelementen verwendet wird. Das System verfügt über fortschrittliche Laserinterferometrie für Präzisionsmesstechnik sowie hohe Durchsatzeffizienz und fortschrittliche Software für Datenverarbeitung und -analyse. ASML YIELDSTAR S-100 nutzt die Infrarot-Ausrichtungstechnologie (IR-LAL), um die Testzeit zu reduzieren und die Genauigkeit bis zu ± 10nm zu erhöhen. Das Gerät ist in der Lage, sowohl 2D- als auch 3D-Strukturen auf Waferstrukturen zu messen. Es verwendet auch Oberflächencharakterisierungstechniken wie Oberflächentopographie, Linienbreitenmessung, Rauheitsabbildung und Fehlerbildgebung. Der YieldStar hat einen großen Dynamikbereich, ein hervorragendes Signal-Rausch-Verhältnis und eine hohe Auflösung, die es ermöglicht, sehr kleine Schwankungen in Waferstrukturen zu erkennen. Es hat auch die Fähigkeit, zerstörungsfreie Tests an Wafern durchzuführen, und kann verwendet werden, um sehr kleine Prozessänderungen schnell zu erkennen, die die Leistung des Geräts beeinflussen können. Die Maschine ist auch in der Lage, detaillierte Berichte und Analyseergebnisse bereitzustellen, die eine schnelle und effektive Entscheidungsfindung ermöglichen. Darüber hinaus können Berichte auf die spezifischen Anwendungsbedürfnisse zugeschnitten werden. Darüber hinaus ermöglicht eine umfangreiche Bibliothek von Messalgorithmen die Erfüllung detaillierter Genauigkeitsanforderungen ohne umfangreiche Programmierung oder Kalibrierung. Neben diesen Funktionen bietet der YieldStar auch eine intuitive Benutzeroberfläche und eine Bildschirmanleitung für schrittweise Bedienung. Es verfügt auch über hervorragende Funktionen zur Fernbedienung und Datenübertragung, sodass Daten außerhalb des Standorts gespeichert, analysiert und exportiert werden können. Insgesamt ist YieldStar S100 ein hochentwickeltes Wafer-Test- und Metrologie-Tool mit hervorragenden Genauigkeits- und Durchsatzfunktionen sowie einer intuitiven Benutzeroberfläche und einer umfangreichen Bibliothek von Messalgorithmen. Es ist eine ideale Lösung für die Charakterisierung und Analyse von Halbleiterbauelementen.